在进行数据存储的时候,我们需要保证数据的完整性,而NAND Flash大容量存储器K<?xml:namespace prefix = st1 ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:smarttags" />9F1G08U芯片由于工艺上问题,不可避免就会出现有的Block中就是某个位或某些位是块的,就是用块擦除命令也是无法擦除的,K9F1G08U数据手册也讲了坏块是存在的,对于K9F1G08U最多有20个坏块。如果数据存储到这个坏块中,就无法保证该数据存储的完整性。对于坏块的管理K9F1G08U数据手册也有它的方法去处理该坏块的方法,我根据实际经验总结出自己的一种方法。首先我们要定义一个坏块管理表:unsigned char BadBlockTable[128],此数组可以存储1024个Block状态,即每一个字节存储8个Block状态。我们要存储一批数据到NAND Flash中去某个Block时,先执行Block擦除操作,然后分析该Block的1st Page和2st Page中的每个位是否全是FFH,如果全是FFH,则在BadBlockTable数组当前Block对应的字节位给置0,否则置1。如果是1表示当前的块是不能存储数据的,这时需要更换下一个Block来存储这些数据,这样我们重复上面的动作分析再进行分析是否可以存储数据,该块能存储就存储到该块中去。<?xml:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" />
具体实现的算法程序如下:
Flag=TRUE;
while(TRUE==Flag)
{
Erase_K9F1G08U_Block(K9F1G08U.HighAddress,K9F1G08U.LowAddress); Flag=Check_K9F1G08U_Block(K9F1G08U.HighAddress/64); if(TRUE==Flag)//is invalid block
{
BadBlockTable[K9F1G08U.HighAddress/512]|=
(1<<(K9F1G08U.HighAddress%8));
K9F1G08U.HighAddress+=64;//Point to Next Block
}
else// is valid block ,record to BadBlockTable
{
BadBlockTable[K9F1G08U.HighAddress/512]&=
~(1<<(K9F1G08U.HighAddress%8));
}
}
for(i=0;i<sizeof(BadBlockTable);i++)
Write_RAM(RAM_BANK_0,K9F1G08U_BAD_BLOCK+i,BadBlockTable);
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用户297166 2007-12-20 17:42
用户60667 2007-6-5 15:43
ash_riple_768180695 2007-6-5 10:07
还有一点:初始坏块不一定表现为坏块。几次擦除和写入可能没问题,一段时间以后就会出问题(操作次数、工作环境都有可能)。所以手册里提到:一定不要擦除初始坏块,擦除后可能成功,但是以后的数据完整性不能保证。这样的坏块就会表现为时好时坏,很危险的。要先查找初始坏块,这点手册里也有。
还有一点:使用中出现的坏块不一定是永久性坏块,经过一次成功的擦除就可以恢复。使用中的坏块多是由于对邻近页反复执行写入和读取操作,造成当前页电荷泄露造成的。这是NAND的固有结构造成的,所以ECC是必要的。一方面可以保证数据的完整性,一方面可以延长器件的寿命。
用户60667 2007-5-30 09:33
ash_riple_768180695 2007-5-29 09:19
ash_riple_768180695 2007-5-29 09:17
擦除不成功的块或写入不成功的块都是坏块,这点是正确的。不成功的检查方法可以有两种:1.操作完成后校验数据(博主采用的方法);2.操作完成后通过查询状态字节也可以得到操作是否成功的信息。后一点在芯片的数据手册中应该给出。后一种方法只需要在操作完成后发送一个字节的指令,执行一个字节的读操作就可以实现。