tag 标签: 探针台选型

相关博文
  • 2025-4-26 11:10
    145 次阅读|
    0 个评论
    一、‌明确测试需求‌ 1.‌样品尺寸与类型‌:确定待测晶圆或器件的zui大尺寸(如2~12英寸)及是否需要测试破片或单颗芯片。 若涉及高压、高频或低温测试,需选择对应专用探针台(如高压探针台需匹配高电压承受能力)。 2.‌测试精度要求‌:关注探针台的机械精度(如X/Y轴移动分辨率、重复性)和电学精度(如低至fA级电流或0.1pF电容测试能力)。 3.‌探针配置‌:根据电极尺寸(如60μm×60μm)选择探针类型(直流、射频、微波探针)及数量(*多可搭载6个探针臂)。 二、‌显微镜与光学需求‌ 1.‌显微镜分辨率‌:需匹配测试需求,例如微小电极或IC内部线路需高分辨率显微镜(如金相显微镜)。 2.‌特殊光学功能‌:若需检测液晶热点(LC)或材料微观结构,需支持偏光片或特殊光学模块。 三、‌测试环境适配‌ 1.‌温度控制‌:根据需求选择温度范围(如室温、4K~800K真空环境),并确认是否需要密闭腔体。 2.‌磁场与真空‌:特殊测试(如量子器件)需磁场环境(永磁铁或电磁铁)或真空系统。 3.‌高压/大电流环境‌:高压测试需专用探针台(含高压电源和保护措施),普通探针台仅支持常规电参数测试。 四、‌性能与兼容性‌ 1.‌机械稳定性‌:优先选择高精度传感器、低振动设计及抗干扰能力强的设备。 2.‌系统兼容性‌:确保探针台与其他测试设备(如源表、示波器)的接口协议兼容,便于构建完整测试系统。 五、‌品牌与服务支持‌ 1.‌品牌信誉与性价比‌:优先选择国产zhi ming pin牌(兼具价格竞争力和技术实力),并通过客户反馈评估实际性能。 2.‌售后服务‌:考察厂商的技术支持响应速度、备件供应能力及培训服务,确保chang期使用无忧。 六、‌其他关键因素‌ 1.‌实验室条件‌:考虑设备尺寸与实验室空间、电源接口等硬件条件匹配性。 2.‌操作便捷性‌:选择自动化程度高(如半自动/全自动)且操作界面友好的设备,减少人为误差。 通过综合以上维度,可系统评估探针台的适用性,确保其满足测试需求、环境适配及chang期使用稳定性。
  • 热度 4
    2023-12-1 14:33
    545 次阅读|
    0 个评论
    在选购真空探针台的时候我们需要注意 的 问题 如下: (1)真空度的要求 (2)测试类型:如直流或高频 (3)样品分辨率要求 (4)样品尺寸 (5)探针操作装置数量 (6)探针操作精度要求 (7)测试精度:如fA/pA/nA的要求 (8)其它预留接口要求。如光纤接品。 (9)其它组件的配置
  • 热度 6
    2023-10-18 15:57
    1757 次阅读|
    0 个评论
    探针台 是一种很专业的仪器,它主要的功能就是针对半导体元件进行检测,这里面说的半导体元件指的是集成电路,分立器件,光电器件,传感器等元件以及封装的测试。通过探针台配合测量仪器可完成集成电路的电压,电流,电阻和电容电压特性曲线等参数检测。可以适用于对芯片进行科研分析,抽查检测等;可以保证这些半导体元件的质量,缩短研发时间和器件制作工艺的成本,所以,它的存在对于制造半导体的企业来说是非常重要的。 以下是 探针台选型注意事项 ※ zui 大需要测几 inch 的晶圆或者器件?是否需要测试破片或者单颗芯片,最小的单颗芯片尺寸? ※探针台机械精度要求多高? ※点测样品的电极尺寸? 100μm *100μm 或 60μm *60μm 的 pad ,还是 FIB 制作的 mini pad ,或者 ic 内部的 metal 线路? ※最多需要几个探针同时去点测? ※是否会用到探针卡测试? ※光学显微镜的最小分辨率需要用到多少? ※显微镜方面,是否需要添加偏光片做 LC 液晶热点侦测? ※探针点测时,对电流的要求 能 否达到 100fa 或者以下?低 电容要求 能 否要做到 0.1pf ? 是否有射频需求? ※接驳的测试仪器接口有哪些? ※测试环境时是否会需要加热或者降温? 是否需要密闭腔体? ※对 chuck 的漏电要求怎样?是否需要添加低阻抗 chuck ? ※是否需要防震桌? ※若添置防震桌,是否有压缩空气?
  • 热度 13
    2023-5-31 11:29
    1531 次阅读|
    0 个评论
    探针台选型注意事项分析
    探针台,是我们半导体实验室电学性能测试的常用设备,也是各大实验室以及芯片设计、封装测试的熟客。设备具备各项优势,高性能低成本,用途广,操作方便,在不同测试环境下,测试结果稳定,客观,深受工程师们的青睐。那么,我们在选用探针台的时候需要注意哪些事项呢? 探针台选型注意事项: ※ * 大需要测几 inch 的晶圆或者器件 ? 是否需要测试破片或者单颗芯片,最小的单颗芯片尺寸? ※ 探针台机械精度要求多高? ※ 点测样品的电极尺寸? 100μm *100μm 或 60μm *60μm 的 pad ,还是 FIB 制作的 mini pad ,或者 ic 内部的 metal 线路? ※ 最多需要几个探针同时去点测? ※ 是否会用到探针卡测试? ※ 光学显微镜的最小分辨率需要用到多少? ※ 显微镜方面,是否需要添加偏光片做 LC 液晶热点侦测? ※ 探针点测时,对电流的要求是否达到 100fa 或者以下?低电容要求是否要做到 0.1pf ? 是否有射频需求? ※ 接驳的测试仪器接口有哪些? ※ 测试环境时是否会需要加热或者降温? 是否需要密闭腔体? ※ 对 chuck 的漏电要求怎样?是否需要添加低阻抗 chuck ? ※ 是否需要防震桌? ※ 若添置防震桌,是否有压缩空气?