探针台,是我们半导体实验室电学性能测试的常用设备,也是各大实验室以及芯片设计、封装测试的熟客。设备具备各项优势,高性能低成本,用途广,操作方便,在不同测试环境下,测试结果稳定,客观,深受工程师们的青睐。那么,我们在选用探针台的时候需要注意哪些事项呢? 探针台选型注意事项: ※ * 大需要测几 inch 的晶圆或者器件 ? 是否需要测试破片或者单颗芯片,最小的单颗芯片尺寸? ※ 探针台机械精度要求多高? ※ 点测样品的电极尺寸? 100μm *100μm 或 60μm *60μm 的 pad ,还是 FIB 制作的 mini pad ,或者 ic 内部的 metal 线路? ※ 最多需要几个探针同时去点测? ※ 是否会用到探针卡测试? ※ 光学显微镜的最小分辨率需要用到多少? ※ 显微镜方面,是否需要添加偏光片做 LC 液晶热点侦测? ※ 探针点测时,对电流的要求是否达到 100fa 或者以下?低电容要求是否要做到 0.1pf ? 是否有射频需求? ※ 接驳的测试仪器接口有哪些? ※ 测试环境时是否会需要加热或者降温? 是否需要密闭腔体? ※ 对 chuck 的漏电要求怎样?是否需要添加低阻抗 chuck ? ※ 是否需要防震桌? ※ 若添置防震桌,是否有压缩空气?