标签: 电解电容

转载：http://www.jphkj.com/list.asp?C-1-536-1.Html 很多客户都咨询过这个问题，电解电容可以存放几年不会坏呢？电解电容常温储存寿命有多久？如果真的让我说出一个时间的话那就是：我也不知道呢！那么电解电容存放久了到底会出现哪些情况？今天我们就带着这些疑问去探个究竟！ 首先我们找到了一袋存放时间比较久的电解电容器，此型号是绿宝石品牌RC系列100v100uf，尺寸10*16我们通过出厂批号和QC出厂日期查询得知此型号是2014年3月份的了。距今已经有五年多的时间。 没有对比就没有伤害，我们必须拿出此型号的新货进行数据对比才知道电解电容的参数到底会有哪些参数变化。为此我们也拿出同样型号进行拆包装测。 左侧是2014年3月生产的电解电容 右侧是2019年7月生产的电解电容 左侧旧电容虽然经历了五年的风风雨雨，但是导针依然和新电容没有什么区别，外观也看不出来导针氧化现象。新旧产品正面都印有BERYL,100V,100μF字样。反面旧产品RC(M),E105℃，新产品胶管背面除了印有生产周期(1922)之外其他并无区别。这是因为绿宝石在今年才对电解电容胶管印有生产周期编码！ 在我们通电测试之前，我们首先要知道它的参数标准是什么？首先我们要测试的是容量，因胶管背面印有的RC(M),其中M即为容量标准误差在±20%，也就是次产品标称容量100uf实际在80-120μF之间都是合格产品。接下来我们会测试DF值(损耗角正切)，下图是绿宝石RC系列损耗角正切测试标准。 通过查询我们得知100V的电容DF值为0.08以内 容量在80-120uf 接下来通电测试！ 左图(旧产品)：容量90.2uf，DF值0.029 右图(新产品)：容量94.6uf，DF值0.025 从数据上看这两个电容都是合格品，容量实际误差在10%以内；而旧产品容量比新产品的容量低4uf左右并不代表电容存放久了容量一定会下降，因为每一批的批次不同实际容量会有区别。由于时间太久我们没有找到五年前的那一批出厂记录表，真的很遗憾！在看DF值 新旧产品基本没有什么差别。 接下来我们会测试漏电流，漏电流是也是衡量一个电解电容好坏的非常重要的标准，而一般客户在实际使用过程中除非有专业仪器，很少人会测试这个参数。在测试之前我们首先看电解电容漏电流标准。 上图是绿宝石电容RC系列漏电流测试标准，我们查询发现 100v的电容 在施加额定电压1分钟后 漏电流 须小于0.03CV或者4uA,二者取最大值。通过计算我们得知0.03*100*100=300uA，即漏电流在300uA以内就是合格。 激动人心的时刻到了，我们接下来通电测试 在经过漫长的一分钟充电后结果出来了 左图(旧产品)：漏电流17.4uA 右图(新产品)：漏电流6.97uA 而对于漏电流的标准300uA来说，这两个电容都是合格品。有点出乎我的预料。虽然旧产品17.4uA比新的要高些，但是对于标准来说是完全合格的。在我写稿之前我又重新抽测几个旧电容，平均漏电流基本都在22uA左右。 二次抽检，充电一分钟的读数平均漏电流22uA左右，完全合格， 随着充电时间的关系，漏电流慢慢减小，约两分钟后为9uA左右 接下来我们把新品那个批次的出货记录表调出来 生产批号为：1906220011YA 出厂日期为：2019年7月6日 通过以上数据对比发现，新品的参数基本和出货记录表一致 而旧电容除了漏电流略大，其他参数没有太大区别 但是，漏电流完全在合格范围内 好吧， 我要开始拿出杀手锏了 接下来测试极限耐压 我们用电解电容耐压测试仪设置两倍的额定电压也就是200v，按下测试按钮后电压会从0V慢慢增加，直到电压稳定不动，此时我读取电压值和漏电流值。 左图(旧产品)：电压上升到136v趋向稳定，此时漏电流2.18mA 右图(新产品)：电压上升到139v趋向稳定，此时漏电流1.83mA 通过以上测试的容量,DF值，漏电流，和耐压的结果分析：电解电容存放时间久了，影响最大的参数是漏电流。电解电容存放时间越长漏电流会越大，而漏电流的大小又跟容量和电压有关系。电压越高漏电流越大，容量越大漏电流也会增大；因此针对高压高容量的电容存放时间太久一定要检测漏电流。必要的时候进行充电激活，充电时间越久漏电流也会越小。

谈起电解电容我们不得不多了解一下它的作用 1、滤波作用 在电源电路中，整流电路将交流变成脉动的直流，而在整流电路之后接入一个较大容量的电解电容，利用其充放电特性(储能作用)，使整流后的脉动直流电压变成相对比较稳定的直流电压。在实际中，为了防止PCB制造电路各部分供电电压因负载变化而产生变化，所以在电源的输出端及负载的电源输入端一般接有数十至数百微法的电解电容。由于大容量的电解电容一般具有一定的电感，对高频及脉冲干扰信号不能有效地滤除，故在其两端并联了一只容量为0.001--0.lpF的电容，以滤除高频及脉冲干扰。 2、耦合作用 在低频信号的传递与放大过程中，为防止前后两级电路的静态工作点相互影响，常采用电容藕合。为了防止信号中韵低频分量损失过大，一般总采用容量较大的电解电容。 接下来还要了解一下电解电容的判断方法 电解电容常见的故障有，容量减少，容量消失、击穿短路及漏电。其中容量变化是因电解电容在使用或放置过程中其内部的电解液逐渐干涸引起，而击穿与漏电一般为所加的电压过高或本身质量不佳引起。 判断PCB打样电源电容的好坏一般采用万用表的电阻档进行测量。 具体方法为： 将电容两管脚短路进行放电，用万用表的黑表笔接电解电容的正极。红表笔接负极(对指针式万用表，用数字式万用表测量时表笔互调)，正常时表针应先向电阻小的方向摆动，然后逐渐返回直至无穷大处。表针的摆动幅度越大或返回的速度越慢，说明电容的容量越大，反之则说明电容的容量越小。如表针指在中间某处不再变化，说明此电容漏电，如电阻指示值很小或为零，则表明此电容已击穿短路。因万用表使用的电池电压一般很低，所以在测量低耐压的电容时比较准确，而当电容的耐压较高时，打时尽管测量正常，但加上高压时则有可能发生漏电或击穿现象。 更需要了解电解电容的使用注意事项 1、电解电容由于有正负极性，因此在电路中使用时不能颠倒联接。在电源电路中，输出正电压时电解电容的正极接电源输出端，负极接地。输出负电压时则负极接输出端，正极接地。 当电源电路中的滤波电容极性接反时，因电容的滤波作用大大降低。一方面引起电源输出电压波动，另一方面又因反向通电使此时相当于一个电阻的电解电容发热。当反向电压超过某值时，电容的反向漏电电阻将变得很小，这样通电工作不久，即可使电容因过热而炸裂损坏。 2、加在电解电容两端的电压不能超过其允许工作电压，在设计实际电路时应根据具体情况留有一定的余量，在设计稳压电源的 滤波电容时，如果交流电源电压为220~时变压器次级的整流电压可达22V，PCB打样此时选择耐压为25V的电解电容一般可以满足要求。但是，假如交流电源电压波动很大且有可能上升到250V以上时，最好选择耐压30V以上的电解电容。 3、电解电容在电路中不应靠近大功率发热元件，以防因受热而使电解液加速干涸。 4、对于有正负极性的信号的滤波，可采取两个电解电容同极性串联的方法，当作一个无极性的电容。 5、电容器外壳、辅助引出端子与正、负极 以及电路板间必须完全隔离。 搜索 “华秋PCB” 了解更多 PCB 电路相关资料资讯。

转载：http://www.20ypower.com/newsdetail_1033272.html 电解电容的失效原因和寿命计算方法 电解电容在LED电源,调光电源等电源适配器中是不可替代的元器件!在这些电源中由于应用环境的原因,成为最脆弱的一环。所以电解电容的寿命基本是电源的寿命。 如果电解电容在质量上没有问题,失效问题的出现就是出现在应用环境中。电解电容设计应用环境主要有:环境温度、散热方式、电压、电流参数等。 对电容器的应用者而言,短路、开路属于“灾难性的失效”,或者说是:“致命的失效”,使其完全完丧失了电容器的功能。其他几类失效模式(即由第二类因素造成的失效),一般归为“劣化失效”, 或者说是“耗尽失效”。 一、电解电容失效模式与因素概述 电解电容正极、负极引出电极和外壳都是是高纯铝,电解电容的介质是在正极表面形成的三氧化二铝膜,真正的负极是电解液,工作时相当一个电解槽,只不过正极表面的阳极氧化层已经形成,不再发生电化学反应,理论上电流为零,由于电极与电解液杂质的存在,会引起微小的漏电流。从现象上看,电解电容常见的失效现象与失效模式有:电解液干涸、压力释放装置动作、短路、开路(无电容量)、漏电流过大等。 二、电解电容的失效机理 耗尽失效 (1)高温环境或发热导致点解电容寿命的终了 通常电解电容器寿命的终了评判依据是电容量下降到额定(初始值)的80%以下。由于早期电解电容的电解液充盈,电解电容的电容量在工作早期缓慢下降。随着负荷过程中工作电解液不断修补倍杂质损伤的阳极氧化膜所致电解液逐渐减少。到使用后期,由于电解液挥发而减少,粘稠度增大的电解液就难于充分接触经腐蚀处理的粗糙的铝箔表面上的氧化膜层,这样就使电解电容的极板有效面积减小,即阳极、阴极铝箔容量减少,引起电容量急剧下降。因此,可以认为电解电容的容量降低是由于电解液挥发造成。而造成电解液的挥发的最主要的原因就是高温环境或发热。 (2)电解电容的ESR产生损耗并转变成热使其发热。 理论上,一个完美的电容,自身不会产生任何能量损失,但是实际上,因为制造电容的材料有电阻,电容的绝缘介质有损耗,各种原因导致电容变得不完美。这个损耗在外部,表现为就像一个电阻跟电容串连在一起,所以就起了个名字叫做等效串联电阻。 ESR的出现导致电容的行为背离了原始的定义。 比如,我们认为电容上面电压不能突变,当突然对电容施加一个电流,电容因为自身充电,电压会从0开始上升。但是有了ESR,电阻自身会产生一个压降,这就导致了电容器两端的电压会产生突变。无疑的,这会降低电容的滤波效果,所以很多高质量的电源都使用低ESR的电容器。由于应用条件使电解电容发热的原因是电解电容在工作在整流滤波(包括开关电源输出的高频整流滤波)、功率电炉的电源旁路时的纹波(或称脉动)电流流过电解电容,在电解电容的ESR产生损耗并转变成热使其发热。 当电解电容电解液蒸发较多、溶液变稠时,电阻率因粘稠度增大而上升,使工作电解质的等效串联电阻增大,导致电容器损耗明显上升,损耗角增大。例如对于105度工作温度的电解电容器,其最大芯包温度高于125度时,电解液粘稠度骤增,电解液的ESR增加近十倍。.增大的等效串联电阻会产生更大热量,造成电解液的更大挥发。如此循环往复,电解电容容量急剧下降,甚至会造成爆炸。 (3)漏电流增加往往导致电解电容失效。应用电压过高和温度过高都会引起漏电流的增加 电解电容压力释放装置(顶部的K或者十,不同的厂家略有区别) 为了防止电解电容中电解液由于内部高温沸腾的气体或电化学过程而产生的气体而引起内部高气压造成电解电容的爆炸。为了消除电解电容的爆炸,电解电容均设置了压力释放装置,这些压力释放装置在电解电容内部的气压达到尚未使电解电容爆炸的危险压力前动作,泄放出气体。随着电解电容的压力释放装置的动作,电解电容即宣告失效。 电解电容温度过高的第二个原因是芯包温度过高。电解电容芯包温度过高的根本原因是电解电容流过过高的纹波电流。过高的纹波电流在电解电容的ESR中产生过度的损耗而产生过度的发热使电解液沸腾产生大量气体使电解电容内部压力及急剧升高时压力释放装置动作。 a.瞬时超温 通常电解电容的芯包核心温度每降低10℃,其寿命将增大到原来的一倍。这个核心大致位于电容器的中心,是电容器内部最热的点。可是,当电容器升温接近其最大允许温度时,对于大多数型号电容器在125℃时,其电解液要受到电容器芯包的排挤(driven),导致电容器的ESR增大到原来的10倍。在这种作用下,瞬间超温或过电流可以使ESR永久性的增大,从而造成电容器失效。在高温和大纹波电流的应用中特别要警惕瞬时超温发生的可能,还要额外注意电解电容的冷却。 b.瞬时过电压的产生 上电过程中,由于滤波电感释放储能到滤波电容器中,导致滤波电容器的过瞬时过电压。 上电过电压示意 电容过电压失效的对应预防措施 电容器在过压状态下容易被击穿,而实际应用中的瞬时高电压是经常出现的。 产品设计时选择承受瞬时过电压性能好的电解电容,20YPower科技在设计调光电源等电源时选择优质的电解电容的同时,设计使用比要求电压还高的电解电容。 电解液干涸是电解电容失效的最主要原因:电解液干涸 1.电解液自然挥发 电解液的挥发速度随温度的升高 电解液的挥发速度与电容器的密封质量有关,无论在高温还是在低温条件下都要有良好的密封性 2.电解液的消耗 漏电流所引起的电化学效应消耗电解液 电解电容的寿命随漏电流增加而减少 漏电流随温度的升高而增加:25℃时漏电流仅仅是85℃时漏电流的不到十分之一漏电流随施加电压升高而增加:耐压为400V的电解电容在额定电压下的漏电流大约是90%额定电压下的漏电流的5倍。 电解液干涸的时间就是电解电容寿命的因素之一:温度 a.根据电解电容的电解液的不同,电解电容的最高工作温度可分为: 一般用途:85℃ 一般高温用途:105℃ 特殊高温用途:125℃ 汽车发动机舱:140～150℃ 影响电解电容寿命的的因素(额定寿命小时数) b.按寿命小时数电解电容可以分为: 一般用途(常温,3年以内):5000小时 一般用途(常温,希望比较长的时间):10000小时以上 工业级:更长的寿命小时数 电解液干涸的时间就是电解电容寿命的因素之二:电解液 电解液的多与寡决定电解电容的寿命外,电解液质量也很重要,所以为什么很多电源厂选择3con的电解电容的原因; 所以总的来说,影响电解电容寿命的的因素(应用条件)有以下这几点: ★高温缩短电解电容寿命 ★高纹波电流缩短电解电容寿命 ★工作电压过高缩短电解电容寿命 三、电解电容寿命电容推算方法 在额定电压下,电解电容的寿命可以由以下公式计算。 其中,L和L0分别为:实际环境温度T时的寿命和额定最高温度T0时的寿命。可以看到,电解电容的使用寿命随温度下降每10℃,寿命增加一倍,即所谓10℃法则。因此,无论是使用还是存储,电解电容均应在尽量低的环境温度下为好。例如常见的rubycon YXJ系列电解电容,105℃/10000; 工作温度使用寿命年 廿年科技设计的电源产品,按20年的产品寿命为设计基础,电解电容的周边温度低于65度;同时选用低阻抗(Low Impedance)的电解电容。

电解电容的失效原因和寿命计算方法 电解电容在LED电源,调光电源等电源适配器中是不可替代的元器件!在这些电源中由于应用环境的原因,成为最脆弱的一环。所以电解电容的寿命基本是电源的寿命。 如果电解电容在质量上没有问题,失效问题的出现就是出现在应用环境中。电解电容设计应用环境主要有:环境温度、散热方式、电压、电流参数等。 对电容器的应用者而言,短路、开路属于“灾难性的失效”,或者说是:“致命的失效”,使其完全完丧失了电容器的功能。其他几类失效模式(即由第二类因素造成的失效),一般归为“劣化失效”, 或者说是“耗尽失效”。 一、电解电容失效模式与因素概述 电解电容正极、负极引出电极和外壳都是是高纯铝,电解电容的介质是在正极表面形成的三氧化二铝膜,真正的负极是电解液,工作时相当一个电解槽,只不过正极表面的阳极氧化层已经形成,不再发生电化学反应,理论上电流为零,由于电极与电解液杂质的存在,会引起微小的漏电流。从现象上看,电解电容常见的失效现象与失效模式有:电解液干涸、压力释放装置动作、短路、开路(无电容量)、漏电流过大等。 二、电解电容的失效机理 耗尽失效 (1)高温环境或发热导致点解电容寿命的终了 通常电解电容器寿命的终了评判依据是电容量下降到额定(初始值)的80%以下。由于早期电解电容的电解液充盈,电解电容的电容量在工作早期缓慢下降。随着负荷过程中工作电解液不断修补倍杂质损伤的阳极氧化膜所致电解液逐渐减少。到使用后期,由于电解液挥发而减少,粘稠度增大的电解液就难于充分接触经腐蚀处理的粗糙的铝箔表面上的氧化膜层,这样就使电解电容的极板有效面积减小,即阳极、阴极铝箔容量减少,引起电容量急剧下降。因此,可以认为电解电容的容量降低是由于电解液挥发造成。而造成电解液的挥发的最主要的原因就是高温环境或发热。 (2)电解电容的ESR产生损耗并转变成热使其发热。 理论上,一个完美的电容,自身不会产生任何能量损失,但是实际上,因为制造电容的材料有电阻,电容的绝缘介质有损耗,各种原因导致电容变得不完美。这个损耗在外部,表现为就像一个电阻跟电容串连在一起,所以就起了个名字叫做等效串联电阻。 ESR的出现导致电容的行为背离了原始的定义。 比如,我们认为电容上面电压不能突变,当突然对电容施加一个电流,电容因为自身充电,电压会从0开始上升。但是有了ESR,电阻自身会产生一个压降,这就导致了电容器两端的电压会产生突变。无疑的,这会降低电容的滤波效果,所以很多高质量的电源都使用低ESR的电容器。由于应用条件使电解电容发热的原因是电解电容在工作在整流滤波(包括开关电源输出的高频整流滤波)、功率电炉的电源旁路时的纹波(或称脉动)电流流过电解电容,在电解电容的ESR产生损耗并转变成热使其发热。 当电解电容电解液蒸发较多、溶液变稠时,电阻率因粘稠度增大而上升,使工作电解质的等效串联电阻增大,导致电容器损耗明显上升,损耗角增大。例如对于105度工作温度的电解电容器,其最大芯包温度高于125度时,电解液粘稠度骤增,电解液的ESR增加近十倍。.增大的等效串联电阻会产生更大热量,造成电解液的更大挥发。如此循环往复,电解电容容量急剧下降,甚至会造成爆炸。 (3)漏电流增加往往导致电解电容失效。应用电压过高和温度过高都会引起漏电流的增加 电解电容压力释放装置(顶部的K或者十,不同的厂家略有区别) 为了防止电解电容中电解液由于内部高温沸腾的气体或电化学过程而产生的气体而引起内部高气压造成电解电容的爆炸。为了消除电解电容的爆炸,电解电容均设置了压力释放装置,这些压力释放装置在电解电容内部的气压达到尚未使电解电容爆炸的危险压力前动作,泄放出气体。随着电解电容的压力释放装置的动作,电解电容即宣告失效。 电解电容温度过高的第二个原因是芯包温度过高。电解电容芯包温度过高的根本原因是电解电容流过过高的纹波电流。过高的纹波电流在电解电容的ESR中产生过度的损耗而产生过度的发热使电解液沸腾产生大量气体使电解电容内部压力及急剧升高时压力释放装置动作。 a.瞬时超温 通常电解电容的芯包核心温度每降低10℃,其寿命将增大到原来的一倍。这个核心大致位于电容器的中心,是电容器内部最热的点。可是,当电容器升温接近其最大允许温度时,对于大多数型号电容器在125℃时,其电解液要受到电容器芯包的排挤(driven),导致电容器的ESR增大到原来的10倍。在这种作用下,瞬间超温或过电流可以使ESR永久性的增大,从而造成电容器失效。在高温和大纹波电流的应用中特别要警惕瞬时超温发生的可能,还要额外注意电解电容的冷却。 b.瞬时过电压的产生 上电过程中,由于滤波电感释放储能到滤波电容器中,导致滤波电容器的过瞬时过电压。 上电过电压示意 电容过电压失效的对应预防措施 电容器在过压状态下容易被击穿,而实际应用中的瞬时高电压是经常出现的。 产品设计时选择承受瞬时过电压性能好的电解电容,20YPower科技在设计调光电源等电源时选择优质的电解电容的同时,设计使用比要求电压还高的电解电容。 电解液干涸是电解电容失效的最主要原因:电解液干涸 1.电解液自然挥发 电解液的挥发速度随温度的升高 电解液的挥发速度与电容器的密封质量有关,无论在高温还是在低温条件下都要有良好的密封性 2.电解液的消耗 漏电流所引起的电化学效应消耗电解液 电解电容的寿命随漏电流增加而减少 漏电流随温度的升高而增加:25℃时漏电流仅仅是85℃时漏电流的不到十分之一漏电流随施加电压升高而增加:耐压为400V的电解电容在额定电压下的漏电流大约是90%额定电压下的漏电流的5倍。 电解液干涸的时间就是电解电容寿命的因素之一:温度 a.根据电解电容的电解液的不同,电解电容的最高工作温度可分为: 一般用途:85℃ 一般高温用途:105℃ 特殊高温用途:125℃ 汽车发动机舱:140～150℃ 影响电解电容寿命的的因素(额定寿命小时数) b.按寿命小时数电解电容可以分为: 一般用途(常温,3年以内):5000小时 一般用途(常温,希望比较长的时间):10000小时以上 工业级:更长的寿命小时数 电解液干涸的时间就是电解电容寿命的因素之二:电解液 电解液的多与寡决定电解电容的寿命外,电解液质量也很重要,所以为什么很多电源厂选择3con的电解电容的原因; 所以总的来说,影响电解电容寿命的的因素(应用条件)有以下这几点: ★高温缩短电解电容寿命 ★高纹波电流缩短电解电容寿命 ★工作电压过高缩短电解电容寿命 三、电解电容寿命电容推算方法 在额定电压下,电解电容的寿命可以由以下公式计算。 其中,L和L0分别为:实际环境温度T时的寿命和额定最高温度T0时的寿命。可以看到,电解电容的使用寿命随温度下降每10℃,寿命增加一倍,即所谓10℃法则。因此,无论是使用还是存储,电解电容均应在尽量低的环境温度下为好。例如常见的rubycon YXJ系列电解电容,105℃/10000; 工作温度使用寿命年 廿年科技设计的电源产品,按20年的产品寿命为设计基础,电解电容的周边温度低于65度;同时选用低阻抗(Low Impedance)的电解电容。

转载 炼成之路 硬件工程师炼成之路 2020-06-10 21:30 普通铝电解电容的 ESR 参数 厂家一般都有各种系列的电解电容，低 ESR 的，长寿命的，高温的。而标准品是性能最低的，或者是最便宜的，一般温度和寿命参数是 85 ℃ /105 ℃ -1000h/2000h 。我这里说的也是这种铝电解电容。 损耗角正切值是有功功率与无功功率之比，在频率低的时候，比如 120Hz ，感抗可以忽略，因此可得到损耗角公式： 普通铝电解电容在规格书中都是找不到 ESR 的值，但是有损耗角损耗角参数，我们可以推算下，不过这种推算只能是在 120HZ 的情况，因为在高频的情况下， ESL 不能忽略，公式就不适用了。 不过，我找到一个尼吉康 nichicon 的一个通用电解电容的文件， 电解电容的 ESR 随频率升高是降低的，变化率并不大 ， ESR 从 120Hz 变到 100Khz ， ESR 只下降了一半（如果看到了我前面陶瓷电容的文章，会发现陶瓷电容下降 100-1000 倍左右）如下图。 下面是几个品牌的最普通的铝电解电容参数，按照上述方法计算得 120Hz 的 ESR 值如下： 我们可以看到，如果我们 限定容值和耐压，各个厂家的 ESR 相差不大 。 另外，也可以发现， 封装（尺寸大小）不同，对 ESR 的影响不会太大，但是会影响纹波电流的大小 ，这也比较容易想明白，尺寸大，能更抗热，纹波电流自然也越大。 下面大致列下不同容量，不同电压的铝电解电容的 ESR 的大小。 既然各家差不多，就以红宝石的为例吧，列了一个表格，方便查询，如下图。 需要说明的是这个 ESR 值是在 120Hz 情况下的，如果频率升高，按照尼吉康 nichicon 的文件， ESR 是会有所下降，看曲线 ( 文章前面有 ) 大致是 2 倍左右（ 100Khz ），但是我也找到 Nippon 提供的文件， ESR 下降更多，达到 7 倍左右。 下图是 Nippon 的曲线 所以，我们可以知道普通电解电容的 ESR 在 120Hz 是多少，但是其在 100Khz 或者其它频率的 ESR 会更低，具体是多少呢，也不能确定 。 Low ESR 铝电解电容 实际上，铝电解电容厂家一般都会提供多个系列的型号，应用在不同的场合，上面的标准系列只是其中一种，比如下图是松下的铝电解电容系列，相当丰富，我们只要按需选择即可。 我们来看看 Low ESR 的电解电容的 ESR 到底有多低呢？ 松下的的 FT 系列 100uF-16V 电解电容的 ESR 查询规格书 0.36 欧姆，而表标准系列是 2.6 欧姆，还是小不少的。 尼吉康的 UCD 系列 100uf-16V 电解电容的 ESR 查询规格书也是 0.36 欧姆，台湾 Lelon 对应的低 ESR 电容是 0.44 Ω。 如此看来，同规格各个厂家低 ESR 铝电解电容， ESR 值相差不大，都为标准的七八分之一左右。