标签: 测量方法

在实际测量时，通常采用 He-Ne 激光作为光源，波长 λ=632.8 nin. 磁光介质样品安放在电磁铁建立的磁场之中，磁场的磁感应强度为 4 000 Gs 左右 . 在此条件下，通过偏振分析器可顺利地分析出磁光克尔转角 θk 的大小， 如果 测量时光信号十分微弱，采 用锁相放大器可 大大提高测量的精 ﹡ 度。 磁光介质材料极其 θk 的大小 随着磁光信息存储技术的发展，目前已经开发出多种磁光介质材料 . 在这些材料中比较优 ﹡ 的有 : 非晶态稀土一过渡金属合金材料 ( 例如 Fe-co) 、非晶态锰铋铝硅 (MnBiA1Si) 合金材料和非晶态锰铋稀土 (MnBiRE) 合金材料等。这些材料通常是采用真空蒸镀、磁控溅射等方法将合金材料沉积于玻璃基底上，磁光薄膜的厚度一般在几百纳米左右。为了提高材料的磁光性能，采取多层膜技术十分有效 . 磁光克尔转角一般并不大，以铽铁钴 (1bFeco) 合金薄膜材料为例，在室温下其磁光克尔转角仅为 0.3L 右。 MnBiA1Si 的磁光克尔转角可达 2.04 。如果仅考虑磁光克尔转角的大小，采用简单工艺制备的 MnBi 合金薄膜的磁光克尔转角达到 1.6 。左右并不困难 . 当然，在实际制造磁光盘时，除了考虑磁光克尔转角这一性能外，还需要综合考虑其他性能 . 目前市场上做成磁光盘产品的磁光介质以铽铁钴 (1bFeco) 合金薄膜材料为主。 物质 科尔转角（度） Fe 0.87 Co 0.85 Ni 0.19 Gd 0.16 Fe 3 O 4 0.32 MnBi 0.7 PtMnSb 2.0

噪声系数测量的三种方法 本文介绍了测量噪声系数的三种方法：增益法、Y系数法和噪声系数测试仪法。这三种方法的比较以表格的形式给出。在无线通信系统中，噪声系数（NF）或者相对应的噪声因数(F)定义了噪声性能和对接收机灵敏度的贡献。本篇应用笔记详细阐述这个重要的参数及其不同的测量方法。 噪声指数和噪声系数 噪声系数(NF)有时也指噪声因数(F)。两者简单的关系为： NF = 10 * log10 (F) 噪声系数（噪声因数）包含了射频系统噪声性能的重要信息，标准的定义为： 从这个定义可以推导出很多常用的噪声系数(噪声因数)公式。 下表为典型的射频系统噪声系数： 噪声系数的测量方法随应用的不同而不同。从上表可看出，一些应用具有高增益和低噪声系数（低噪声放大器(LNA)在高增益模式下），一些则具有低增益和高噪声系数（混频器和LNA在低增益模式下），一些则具有非常高的增益和宽范围的噪声系数（接收机系统）。因此测量方法必须仔细选择。本文中将讨论噪声系数 测试仪 法、增益法以及Y系数法。 使用噪声系数测试仪 噪声系数测试/分析仪在图1种给出。 图1 噪声系数测试仪，如Agilent的N8973A噪声系数分析仪，产生28V DC 脉冲信号驱动噪声源(HP346A/B)，该噪声源产生噪声驱动待测器件(DUT)。使用噪声系数分析仪测量待测器件的输出。由于分析仪已知噪声源的输入噪声和信噪比，DUT的噪声系数可以在内部计算和在屏幕上显示。对于某些应用(混频器和接收机)，可能需要本振(LO)信号，如图1所示。当然，测量之前必须在噪声系数测试仪中设置某些参数，如频率范围、应用(放大器/混频器)等。 使用噪声系数测试仪是测量噪声系数的最直接方法。在大多数情况下也是最准确地。工程师可在特定的频率范围内测量噪声系数，分析仪能够同时显示增益和噪声系数帮助测量。分析仪具有频率限制。例如，Agilent N8973A可工作频率为10MHz至3GHz。当测量很高的噪声系数时，例如噪声系数超过10dB，测量结果非常不准确。这种方法需要非常昂贵的设备。 增益法 前面提到，除了直接使用噪声系数测试仪外还可以采用其他方法测量噪声系数。这些方法需要更多测量和计算，但是在某种条件下，这些方法更加方便和准确。其中一个常用的方法叫做“增益法”，它是基于前面给出的噪声因数的定义： 在这个定义中，噪声由两个因素产生。一个是到达射频系统输入的干扰，与需要的有用信号不同。第二个是由于射频系统载波的随机扰动(LNA，混频器和接收机等)。第二种情况是布朗运动的结果，应用于任何电子器件中的热平衡，器件的可利用的噪声功率为： PNA = kTΔF, 这里的k = 波尔兹曼常量(1.38 * 10 -23 焦耳/ΔK), T = 温度，单位为开尔文 ΔF = 噪声带宽(Hz) 在室温(290ΔK)时，噪声功率谱密度P NAD = -174dBm/Hz。 因而我们有以下的公式： NF = PNOUT - (-174dBm/Hz + 20 * log10(BW) + 增益) 在公式中，PNOUT是已测的总共输出噪声功率，-174dBm/Hz是290°K时环境噪声的功率谱密度。BW是感兴趣的频率带宽。增益是系统的增益。NF是DUT的噪声系数。公式中的每个变量均为对数。为简化公式，我们可以直接测量输出噪声功率谱密度(dBm/Hz)，这时公式变为： NF = PNOUTD + 174dBm/Hz - 增益 为了使用增益法测量噪声系数，DUT的增益需要预先确定的。DUT的输入需要端接特性阻抗(射频应用为50Ω，视频/电缆应用为75Ω)。输出噪声功率谱密度可使用 频谱分析仪 测量。 增益法测量的装置见图2。 图2 作为一个例子，我们测量MAX2700噪声系数的。在指定的LNA增益设置和 VA GC 下测量得到的增益为80dB。接着，如上图装置仪器，射频输入用50Ω负载端接。在频谱仪上读出输出噪声功率谱密度为-90dBm/Hz。为获得稳定和准确的噪声密度读数，选择最优的RBW (解析带宽)与VBW (视频带宽)为RBW/VBW = 0.3。计算得到的NF为： -90dBm/Hz + 174dBm/Hz - 80dB = 4.0dB 只要频谱分析仪允许，增益法可适用于任何频率范围内。最大的限制来自于频谱分析仪的噪声基底。在公式中可以看到，当噪声系数较低(小于10dB)时，(POUTD - 增益)接近于-170dBm/Hz，通常LNA的增益约为20dB。这样我们需要测量-150dBm/Hz的噪声功率谱密度，这个值低于大多数频谱仪的噪声基底。在我们的例子中，系统增益非常高，因而大多数频谱仪均可准确测量噪声系数。类似地，如果DUT的噪声系数非常高(比如高于30dB)，这个方法也非常准确。 Y因数法 Y因数法是另外一种常用的测量噪声系数的方法。为了使用Y因数法，需要ENR (冗余噪声比) 源。这和前面噪声系数测试仪部分提到的噪声源是同一个东西。装置图见图3： 图3. ENR头通常需要高电压的DC电源。比如HP346A/B噪声源需要28VDC。这些ENR头能够工作在非常宽的频段(例如HP346A/B为10MHz至18GHz)，在特定的频率上本身具有标准的噪声系数参数。下表给出具体的数值。在标识之间的频率上的噪声系数可通过外推法得到。 表1. 噪声头的ENR 开启或者关闭噪声源(通过开关DC电压)，工程师可使用频谱分析仪测量输出噪声功率谱密度的变化。计算噪声系数的公式为：图片 在这个式子中，ENR为上表给出的值。通常ENR头的NF值会列出。Y是输出噪声功率谱密度在噪声源开启和关闭时的差值。 这个公式可从以下得到： ENR噪声头提供两个噪声温度的噪声源： 热温度时T = T H (直流电压加电时)和冷温度T = 290°K。 ENR噪声头的定义为： 图片冗余噪声通过给噪声二极管加偏置得到。现在考虑在冷温度T = 290°K时与在热温度T = T H 时放大器(DUT)功率输出比：Y = G(Th + Tn)/G(290 + Tn) = (Th/290 + Tn/290)/(1 + Tn/290 这就是Y因数法，名字来源于上面的式子。 根据噪声系数定义，F = Tn/290+1，F是噪声因数(NF = 10 * log(F))，因而，Y = ENR/F+1。在这个公式中，所有变量均是线性关系，从这个式子可得到上面的噪声系数公式。 我们再次使用MAX2700作为例子演示如何使用Y因数法测量噪声系数。装置图见图3。连接HP346A ENR到RF的输入。连接28V直流电压到噪声源头。我们可以在频谱仪上监视输出噪声功率谱密度。买电子元器件现货上唯样商城 开/关直流电源，噪声谱密度从-90dBm/Hz变到-87dBm/Hz。所以Y = 3dB。为了获得稳定和准确的噪声功率谱密度读数，RBW/VBW设置为0.3。从表2得到，在2GHz时ENR = 5.28dB，因而我们可以计算NF的值为5.3dB。 总结 在本篇文章讨论了测量射频器件噪声系数的三种方法。每种方法都有其优缺点，适用于特定的应用。下表是三种方法优缺点的总结。理论上，同一个射频器件的测量结果应该一样，但是由于射频设备的限制(可用性、精度、频率范围、噪声基底等)，必须选择最佳的方法以获得正确的结果。