最近做24位AD,模拟供电部分用TI的LDO--TPS76333,发现设备拿到现场去之后AD采集的噪音很大,和在家里测试的结果有天壤之别,所以在现场玩命地在检测回路上想各种方法抑制干扰,后来用泰克TDS1012示波器看了一下发现干扰更多是从电源进来的,检测通道上并不大,解决了好几天,最后发现LDO输出端的电容换了之后就好多了,至此问题还是距离原来家里实验的20位最好精度还有距离1.5位的水平,且怎么也提不上来,索性用手里一只LP2950类的LDO把TPS76333给换了下来,精度居然回到了20位。
几天下来,似乎想明白了一些问题:
1.LDO类芯片输出端的胆电容的等效内阻影响很大。
2.高精度检测时对于噪音的理解是否可以这样认为,双极技术的LDO本身在噪音 方面要远远低于MOS类的LDO,很“安静”。
3.从另一角度应该理解为MOS对于电平噪音抑制能力看来不敌双极技术,MOS是电平动作;而双极技术则是电流动作,其构建环境相对苛刻,恰恰是个好处。
这些没准是我这个小学生天真的想法,还待论证
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