原创 IC测试中的pattern

      说起IC测试，不得不说一下Pattern这个词，它中文的意思是模式。在图像处理中，这个词意思为图像的纹理特征，而在IC也即芯片测试行业，这个词实际上代表了需要测试芯片的时序特征。简单的说，在测试芯片的过程中，ATE(Automated Test Equipment)会向被测试芯片的输入管脚发送一系列的时序，而在芯片的输出管脚比较输出时序，由此测试芯片是否满足其功能。狭义意义上的测试pattern就是芯片的真值表。

      与IC设计产生的时序不同，一般测试用的Pattern中的时序都是分割好周期的。而不同ATE公司之间的Pattern其语法是不一样的，这就是IC测试服务的由来。一般来说各大ATE厂商都有自己的服务部门提供到本公司机台的Conversion服务，例如，Advantest, Teradyne, Verigy, Credence, LTX 等，但也有一些公司专门提供这方面的服务，也即帮助各种客户解决不同ATE平台之间的Pattern和测试代码的转换，也即Pattern Conversion & Program conversion。

     在美国有TSSI, TestInsight等数家IC测试服务公司，在日本有四国科技等数家IC测试服务公司，在中国台湾省也有此类性质的公司。这些公司主要提供一些国际标准格式pattern 转到各大ATE公司不同机台之间的Pattern Conversion服务。