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测试测量仪器行业技术发展趋势
2008-7-1 15:31
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测试测量
测试测量 在最短 简单来说,仪器技术2.0是相对于完全依*硬件来实现测试测量的1.0时代而言的:在后一种方式下,硬件本身和其具备的分析功能都是由仪器供应商来定义,用户要实现自定义只能是天方夜谭即使将仪器连接到PC,传输的信息也是厂商定义后的测试结果,用户无法获得测量的原始数据来进行自定义分析。而2.0方式却完全不同,在获得实时的原始数据后,工程师可以利用软件来设计自己的用户
以软件为核心并不代表硬件已经无足轻重,只有对数据进行高质量的数字化和快速传输才能在软件平台上真正实现精确分析的能力。模块化的I/O硬件技术的飞速发展为
朱君表示,仪器技术2.0的包括以下几项必备要素:自定义测试、实时数据传输、自定义界面、模块化硬件以及仪器同PC之间的连接性。"这些要素已经非常普遍。"她指出,这也是本文开头中所述的其他厂商之所以开始涉足软件和PXI等技术的原因。
2 G' W% d! |2 s F1:仪器技术1.0与仪器技术2.0比较# P: [ e& ?9 t6 h" c
组成部分与必备要素
{. X1 d8 g1 R L4 [6 w) G 虚拟仪器技术的概念已经在市场上获得了广泛认同和采用,同时 首先来看ADC。过去工程师需要自己设计专用ASIC或者现成的高性能ADC。但是很显然,对于出货量相对较少的测试测量行业而言,ASIC方案的成本较高。随着ADC不断进入更多的应用领域,半导体供应商们在该项技术获得了极大的发展。今天,ADC不仅能够提供足够的性能,还由于大规模量产获得了低成本优势。/ [4 [* x$ l) \# b
其次是总线技术。事实上,许多总线技术都存在着"双高问题"---在提供高带宽的同时,延迟时间也居高不下。但不幸的是,大多数情况下常常被忽略的延迟会对某些测试应用产生直接作用,影响指令在总线
LabVIEW已经具有上述能力。与PLC组态软件、C文本语言的特性不同,这是一款图形化的编程软件平台。自1986年推出以来,LabVIEW不断增加即拖即用的分析 "尽管不同的行业有不同的发展道路,但共同的一点却是用户对自定义的要求愈加普遍。"朱君总结道,"仪器技术2.0已经成为测试测量行业势在必行的趋势,以软件为核心、结合模块化硬件的解决方案将为工程师实现他们所需的自定义和最优化结果。"
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