原创 IC设计经典面试大题汇总（五）

问：请全方位解释下DFT（可测性测试）？

答：通常芯片流完片回来，我们会对芯片的功能和性能进行测试；同时也会对制造过程中有缺陷的芯片进行测试然后筛出。DFT的全称是design for test(可测试性设计)，DFT技术是检测post-routing netlist与foundry制造出来的芯片之间功能一致性的方法。在生产制造过程中，由于工艺或者环境等因素有可能在硅片上产生物理缺陷，进而导致制造出的芯片表现出不同于设计功能的现象。DFT技术就是用来捕捉芯片中的物理异常，进而做出芯片是否与post-routing netlist功能一致的判断。DFT的目的就是为了实现芯片对于缺陷的一种高品质低成本的测试方法。

DFT测试的策略：

1、边界扫描（boundary scan），这主要是针对IO的测试；

2、扫描连测试，芯片电路可以等效成寄存器+组合逻辑的电路形式不断重复，因此通过在寄存器添加扫描端口，对寄存器进行赋值，赋完值之后进行正常工作，之后判断寄存器的输出是否如预期，判断对错；通常时通过ATPG来产生固定的patter，所以DFT实际上是针对RTL做的逻辑测试。添加扫描链虽然增大了芯片的面积，但是提高了芯片的可测性。因此是值得做的。

3、内建自测试技术即Mbist，用来测试存储器SRAM有无故障。