原创 光伏电池电气性能的评测——脉冲式I-V测量Pulsed I-V Measurements

2011-6-30 09:35 1920 15 17 分类: 消费电子

除了直流I-V和电容测量,脉冲式I-V测量也可用于得出太阳能电池的某些参数。特别是,脉冲式I-V[1]测量在判断转换效率、最短载流子寿命和电池电容的影响时一直非常有用。

In addition to DC I-V and capacitance measurements, pulsed I-V measurements may be useful for deriving parameters of a solar cell. In particular, pulsed I-V measurements have been useful in determining the conversion efficiency, minimum carrier lifetime, and the effects of cell capacitance.

 

本文详细介绍的这些PV测量操作都可以利用针对半导体评测设计的自动化测试系统快速而简便地实现,例如来自吉时利仪器公司的4200-SCS半导体特征分析系统4。该系统能够采用四针探测方式提供并吸收电流,并支持软件控制的电流、电压和电容测量。该系统可以配置各种源和测量模块,进行连续式的和脉冲式的I-V与C-V测量,得到一些重要的PV电池参数。例如,该系统可以利用4225-PMU[2]模块连接到PV电池上进行脉冲式I-V扫描(如图8所示)5。除了提供脉冲电压源,该PMU还能够吸收电流,从而测出太阳能电池的输出电流,如图9所示。4200-SCS[3]系统支持各种硬件模块和软件测量函数库。

 

The PV measurements detailed here can be made quickly and simply by using an automated test system designed for evaluating semiconductors, such as the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System from Keithley Instruments.[4] The system can source and sink current using a four-probe approach, and make software-controlled measurements of current, voltage, and capacitance. The system can be outfitted with a variety of source and measurement modules to make continuous and pulsed I‑V and C‑V measurements for deriving important PV cell parameters. For example, the system can be connected to a PV cell to perform a pulsed I‑V sweep using a Model 4225-PMU module (Fig. 8).[5] In addition to sourcing a pulsed voltage, the PMU can sink current so it can measure a solar cell’s output current as shown in Fig 9. The Model 4200-SCS system is supported by a wide array of hardware modules and software measurement function libraries.

 

 

8.jpg

 

                                 太阳能电池

                                SMA同轴线                           

 连接公共端

 

图8. 4225-PMU模块可用于PV电池的脉冲式I-V测量

Fig 8. The Model 4225-PMU module can be used to make pulsed I‑V measurements on a PV cell.

 

9.jpg

 

图9. 硅PV电池脉冲式I-V测量的绘图表示曲线

Fig 9. This curve is a graphical representation of pulsed I‑V measurements on a silicon PV cell.

 

 

作者简介

MaryAnne Tupta是吉时利仪器公司高级应用工程师。她在John Carroll大学获得物理/电子工程学士学位和物理学硕士学位。她自1988年以来一直帮助吉时利的用户进行仪器应用工作。她的联系电话是440-498-2715,电子邮箱为mtupta@keithley.com。

 

About the Author

MaryAnne Tupta is a senior applications engineer at Keithley Instruments, Inc. She earned a B.S. in physics/electronic engineering and an M.S. in physics from John Carroll University. She has assisted Keithley customers with instrument applications since 1988. She can be reached at 440-498-2715 or mtupta@keithley.com.

 



[1] 脉冲式I-V、Q点、双通道、脉冲工具包http://www.keithley.com.cn/semi/4200scs/4200piv

[2] 4225-PMU超快I-V模块http://www.keithley.com.cn/products/semiconductor/parametricanalyzer/4200scs/?mn=4225-PMU

[3] 4200-SCS型半导体特征分析系统http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/currentvoltage/4200scs

[4] 吉时利仪器公司“基于4200-SCS半导体特征分析系统的光伏材料与太阳能电池电气特征分析”3026号应用笔记www.keithley.com.

[5]吉时利仪器公司“4225-PMU超快I-V模块的超快I-V应用”,电子书, www.keithley.com.

PARTNER CONTENT

文章评论2条评论)

登录后参与讨论

用户1608585 2011-7-1 16:26

very good

用户1608585 2011-7-1 16:16

别人网站上的技术文章的翻译版?
相关推荐阅读
用户1589850 2012-12-31 11:04
吉时利2600B系列系统数字源表源测量单元(SMU)仪器(四)
    想与吉时利测试测量专家互动?想有更多学习资源?可登录吉时利官方网站http://www.keithley.com.cn/  ...
用户1589850 2012-12-24 18:21
吉时利2600B系列系统数字源表源测量单元(SMU)仪器(三)
2600B系列数字源表源测量单元(SMU)仪表设计支持对各种负载使用两种操作模式。在普通模式下,源测量单元(SMU)仪表为最大吞吐量提供高带宽性能。在高电容模式下,源测量单元(SMU)仪表使用较慢...
用户1589850 2012-12-21 14:35
吉时利2600B系列系统数字源表®源测量单元(SMU)仪器(二)
订购信息   2601B 单通道系统数字源表仪表(3A DC,10A脉冲) 2602B 双通道系统数字源表仪表(3A DC,10A脉冲) 2604B双通道系统数字源表仪表(3A D...
用户1589850 2012-12-19 15:09
吉时利2600B系列系统数字源表®源测量单元(SMU)仪器
主要特性如下: •高度集成的4象限电压/电流源,提供业界最佳性能,分辨率6位半 • 系列型号具有业界最宽的动态量程:10A脉冲到0.1fA和200V到100nV • 内置基于Java的...
用户1589850 2012-12-18 15:18
2600-PCT-x/4200-PCT-x参数曲线跟踪仪配置(四)
  半导体参数测试软件,适用于组件与分立器件   ACS基本版本软件是专为利用吉时利仪器的高性能能力而开发的,它包括几个履行常见高功率器件测试的样本库。与其他系统不同的是,该软件在测量...
用户1589850 2012-12-17 14:41
2600-PCT-x/4200-PCT-x参数曲线跟踪仪配置(三)
      1. 用于提取参数的测试方法。仅列出典型MOSFET,其他器件使用的方法类似。 2. 2657A型高功率系统数字源表仪器。 3. 2636A型数字源表或421...
EE直播间
更多
我要评论
2
15
关闭 站长推荐上一条 /3 下一条