原创 皇晶科技逻辑分析仪 NAND Flash 总线分析我看到有多个 CE 模式, 请问什么用途?

所谓多 CE 片选(Chip Enable 或 Chip Select), 亦即一颗芯片包装内, 集成了多颗

芯片的概念, 除了 CE与 Busy/Ready 以外的脚位都是共享的.

这样的设计, 因为类似一次用很多颗芯片, 使得总存储空间就可以变大, 脚位也不会增加太多. 大部分的情况下, 不同的 CE 间并不会同时被开启, 如同交通号志一样, 东西向绿灯时, 南北向就红灯. 这样十字路口这个共享区就不会发生撞车的情形.

少数情况, 所有 CE 会同时开启. 例如, 同一个时间要对所有的 CE 下复位(Reset), 或者同时写入一个完全相同的测试资料时, CE 就可以同时进开启, 反而这样的应用可以增进效率.

不管上述哪一种情况, 一个测量 NAND Flash 的人, 总是会需要看到芯片上每个 CE 开启之后的行为. 所以, NAND Flash 总线分析必须支持此类多 CE 的芯片. 否则无法完整检视这类的 NAND Flash.