原创 DFT Compiler的学习-----part2 scan replacement

今天着重分析下扫描单元替换（scan replacement）的内容。所谓scan
replacement，顾名思意就是在设计中用扫描单元替代非扫描单元。如果设计是以RTL形式给出的，则在RTL综合成门级网表的过程中自动插入扫描
单元。如果设计是以门级网表给出来的，则专门做一次扫描替换。

流程：1.选择扫描链的策略---> 2.test DRC检查---> 3.带扫描链的综合

在做扫描链之前，还需要考虑下面问题：
1 .根据目前设计的格式，选择插入扫描链的流程。
如
果是RTL或者未优化的门级设计，则采用test-ready Compile，如果是优化的门级设计，采用constraint-optimized
插入方式。test-ready Compile包括逻辑优化和扫描链插入。采用的命令就是 compile
-scan。优点就是流程简单，能够得到更好时序和面积。注意test-ready Compile只是将单元替代，并没有将扫描单元连接起来。

2.找出扫描替代的障碍。
障碍有很多种啊，比如本身工艺库就不提供扫描单元，或者某些寄存器找不到相对应的扫描单元，或者设计本身有dont_touch属性或者scan_element属性为false等等。
（set_scan_element truefalse [get_cells ADA])
扫
描链类型本身有带mux的寄存器，LSSD，clocked
SD。具体选择那一个要考虑到工艺库和本身的设计，一般采用带mux的寄存器。有两种方式来设置扫描链的类型，一种就是设计
test_default_scan_style变量。设置的方法跟tcl设置变量的方法一样，默认的是multiplexed_flip_flop。另
一种设置的方式是set_scan_configuration -style来设置。
（tips：如何查看typical库中是否有扫描单元呢。
get_pins typical/*/* -filter "signal_type==test_scan_in")

在
插入扫描链的过程中，可以指定扫描单元。使用的命令是set_scan_register_type。选项有-
exact和-type，如果使用了exact选项，则在后面的优化过程中（compile
-increment）仍然会保留只使用type列表中的扫描单元。（注意DC命令中类似的命令就是set_register_type)。

下面说说constraint-optimized的扫描链插入流程。包括插入扫描链，根据约束优化扫描逻辑，修正DRC错误。对于这种流程，输入可以是优化后的门级网表，可以不包含扫描单元，也可以包含扫描单元。这里需要用到的命令有：
set_drc_configuration
preview_dft.
这些命令以后再深入学习把。