原创 芯片测试与电源去耦

    芯片从foundry厂回来了，可是人手不够，测试工作得自己做。以前从来不关心这方面的东西，基本上属于一无所知。从开始熟悉工具的使用到最后出了个板子，居然花了好几天时间，画得不好，还被同事耻笑了一番。当时以为自己的芯片外围电路不复杂，凑合用就得了，也就没有仔细改。
    等到测试板回来之后，插上芯片上电测试，工作点都好好的，可是加上信号就是没有反应。用示波器观测，居然在一个端口发现一个极强的稳定振荡波形。脑袋一下子就大了，当时的第一反应就是坏了，里面的反馈回路肯定发生了振荡。由于系统设计的问题，导致我的芯片里用了两个非线性反馈回路。由于仿真的时候很难推导模型，没有理论依据觉得电路一定会稳定，因此直到最后流片也是对自己的设计不那么肯定。测试一发现振荡第一反应就是这个。心情是七上八下的。
    还好当初设计的时候考虑到可能发生振荡的问题，作了一些措施来避免因振荡问题而无法测试其它的功能指标。于是先避开了这一块，把其它改测的能测的都做了一遍。后来有同事告诉我测试板上没有做电源去耦。当时觉得电源去耦问题应该不是振荡的原因，不过还是重新设计了一块板子，也没做什么大的改动，就是给芯片电源端口加了几个容值不算大的去耦电容。
    板子回来再做测试的时候，很意外的，振荡现象居然没有了。后来验证了好几块片子都没有再发生振荡问题。开心之余，也后悔做第一块测试板太草率。自己设计的芯片没有极强抗干扰能力，板子再乱做一通，自然出现一些反常现象。教训不能说不深刻，测试自己做的芯片本来就很紧张，而测试板的问题又让我几天之内的心情在天堂与地狱之间往复，这下算是彻底意识到芯片电源去耦的重要性了。