原创 各种探针卡材料的使用

2021-4-27 16:41 7093 15 15 分类: 测试测量

各种探针卡材料的使用

钨针是一般最常应用于制作探针卡的。因为大部分的IC上都为铝质焊垫(Aluninium Pad),在铝质焊垫外会产生一层氧化铝用于保护双焊垫。钨针可以刺穿氧化层而与内部金属会达成导电。但是由于钨针本身分子结构上的影响,在针接触焊垫时,易将表面氧化层之碎屑于针尖处集结产生污染,使得接触阻抗随之上升并需要清洁针尖。

铼钨针因为材质表面分子空隙较小,氧化层碎屑于IC表面污染物较不容易于针尖聚结,清洁针尖的频率较钨针低,探针卡(Probe Card)寿命较长,但是铼钨针不适用于低接触阻抗的测试要求.

铍铜针最常用于金质搭接焊垫(Gold Bump Pad),如果有低接触阻抗之测试要求时也会应用于铝质焊垫。由于铍铜针材质比钨针软,探针卡本身维修频率也较高;且其应用于金质焊垫上的性能好。因为金并不会产生氧化层,只要很小的力量就能使探针于焊垫之间获得很好的电性接触;又因为金本身材质软,使用较小的接触力量(Contact Force)较不会伤害金质焊垫而破坏IC性能。

作者: Winnerwyh, 来源:面包板社区

链接: https://mbb.eet-china.com/blog/uid-me-3956621.html

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