原创 ACT8990的边界扫描测试系统设计—文章1

本日志是一个系列性质的文章，会在以后的日志里逐渐完成后续章节的编辑，希望大家耐心等待！

本系列文章主要向大家介绍使用TI公司的ACT8990来实现边界扫描测试系统设计，同时也将在文章中说明设计的注意事项和方案选择原因等！

文章前言：

    具体的工作就是利用ACT8990边界扫描测试控制器和凌阳单片机设计一个简易边界扫描测试系统，能够对指定边界扫描测试DEMO板进行基本的边界扫描测试，并做出简单的诊断。随着电子工艺水平的不断提高，芯片集成度也越来越高，加上表面封装与MCM技术的应用，测试时通过施加探针来施加测试信号变得越来越困难。边界扫描测试(Boundary Scan Test) 技术是一种可测性设计技术,其基本思想是在集成电路的边界(引脚) 上增加附加的串行扫描单元,从而实现器件引脚状态的完全可控和完全可观测。与之相应的工业标准为IEEE1149.1系列标准。该技术为芯片的集成度提高带来的芯片和电路板的测试难题提供了一种有效且低成本的解决方法。边界扫描技术是国际国内新兴的测试技术，互通性强，测试系统相对要求低，测试能力强，省时，省事，把测试的成本降低了一个数量级，在今后的发展有很大的前途。本设计用凌阳单片机与ACT8990边界测试控制器设计了一个具有基本的边界扫描功能的系统，借此加深对边界扫描的理解，为以后的应用打下良好的基础。

    主要是让大家熟悉边界扫描的原理和功能！只是入门知识哦！