现在很苦恼,只是知道EMC方面要做传导、辐射抗干扰,传导、辐射干扰,ESD等测试内容,但是不知道基于什么来判断是否通过这些实 验,具体过程不太清楚。” 按照主流的测试规范中的定义: A 级:在实验中和实验后,模块所有功能满足设计要求。这个很简单,只要监控在过程中所有的功能正常。 B 级:实验中模块所有功能满足设计要求,但允许有一个或多个超出规定允差。实验后所有功能应自动恢复到规定限值。这个判断是功能必须存在,但是可能误差变大或者限制超标。 C 级:实验中模块一个或多个功能不满足设计要求,但实验后所有功能能自动恢复。不能满足功能,但是去掉干扰后能恢复。 D 级:实验中模块一个或多个功能不满足设计要求且实验后不能自动恢复,需要对装置系统简单操作重新激活。不能满足功能,但是去掉干扰后不能恢复,需要强制RESET。 E 级:实验中模块一个或多个功能不满足设计要求且实验后不能自动恢复,需要对装置系统修理或更换。抢救无效,只能回修 因此我们能够清晰的看出A和D和E,比如如果模块驱动灯,这个灯损坏了,或者不该闪的时候闪了,这个很明显。但是内部的电源监控或者其他功能,存储器的内部一些错误怎么监控呢? 我虽然对汽车电子的软件策略不了解,不过对于大部分的输入输出和和电源,每个模块都会有详细的诊断。如果软件做的足够好,那么就会记录在运行过程中的一些过程。
因此判断整个模块的工作状态,实质上是通过这些诊断信息操作的,如果诊断信息本身被干扰,那很简单最好是个C等级的。而D等级和E等级是比较容易被发现的。 对于很多模块来说,功能正常工作是一个很基本的东西,而诊断的一些信息则是把整个模块构成一个闭环系统, 使得模块不仅通过外部的信号,而且能够根据外部输出和环境条件做出输出或保护,如果存在这样的一个机制,那么整个测试过程变得较为简单的去判断。特别是那种带LIMP HOME功能的模块,如果光是通过眼睛看负载,那么实质上,你完全无法知道模块的工作状态。 当然不带电的实验往往要容易一些,不过也是需要足够的测试设备支持的。柳青曾告诉我他花了三年时间在西门子做测试和测试设备以及测试软件,我觉得这是非常有道理的。岩兄建议我写一些Run to Fail的一些情况,我准备看看资料,整理一下。当然我不知道其他工程师对下线测试EOL多有了解,关于这EOL的程序和正常程序如何协调,我曾经有所耳闻,不过感悟不深,希望通过找些资料多了解,与各位一同探讨。
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