原创 2007.8.13 EDN“嵌入式系统”文章导读

HOLTEK新推出HT46RU75D-1八位Dual Slope A/D型微控制器

技术分类： 嵌入式系统 

关键字：HOLTEK,HT46RU75D-1,八位,Dual Slope,A/D型,微控制器

HT46RU75D-1是盛群(Holtek)半导体新推出的Dual Slope A/D Type 8-Bit OTP MCU，其符合工业规格，具有OTP Partial Lock等功能，再加上丰富及多样化的配备，特别适用于电桥式传感器的量测系统，可用来量测压力、温度、湿度变化的产品，如 体重计、压力计、温度计、湿度计及胎压计等。

http://article.ednchina.com/Embeded/2007-08/20070810100718.htm

基于SOPC的便携式边界扫描故障诊断仪

技术分类： 嵌入式系统   来源：电子产品世界/作者： 哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院 彭立章 杨春玲

关键字：SOPC,便携式,边界扫描,故障诊断仪

边界扫描技术的核心思想是在器件内部的核心逻辑与I/O引脚之间插入的边界扫描单元，它在芯片正常工作时是“透明”的，不影响电路板的正常工作。各边界扫描单元以串行方式连接成扫描链，通过扫描输入端将测试矢量以串行扫描的方式输入，对相应的引脚状态进行设定，实现测试矢量的加载；通过扫描输出端将系统的测试响应串行输出，进行数据分析与处理，完成电路系统的故障诊断及定位。

http://article.ednchina.com/Embeded/2007-08/20070807100245.htm

扩大ARM SoC的验证覆盖缩短仿真时间

技术分类： 嵌入式系统   来源：电子设计应用/作者：Mentor Graphics公司Jim Kenney

关键字：ARM,SoC,验证覆盖

验证复杂的SoC设计要耗费极大的成本和时间。据证实，验证一个设计所需的时间会随着设计大小的增加而成倍增加。在过去的几年中，出现了很多的技术和工具，使验证工程师可以用它们来处理这类问题。但是，这些技术中很多基于动态仿真，并依靠电路操作来发现设计问题，因此设计者仍面临为设计创建激励的问题。

http://article.ednchina.com/Embeded/2007-08/20070807084858.htm