文章
首页 我的博文
用户673707 2010-3-27 17:05
常用缩略语
 CP   —— Wafer级测试  FT   —— 成品测试  VOH   —— 输出高电平  VOL   —— 输出低电平  VIH   —— 输入高电平  VIL   —— 输入 ...
关闭 站长推荐上一条 /1 下一条