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晶体管烧毁机理的研究:I.直流烧毁
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类别: 消费电子
时间:2020-01-14
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晶体管烧毁机理的研究:If   一 , ,   真 空 与 低 温  va c u u   m & Cr y o g e n i c s   一 第1 3 卷 第 8期  1 9 9 4  ̄ 9月  缎  邵 一   . :   象   刊 3 醛 l   S AM ., E   微 波G a A s 功 率 场 效 应 晶 体 管 烧 毁  机 理 的研 究 : I . 直流 烧毁  查至垂  苎 圭塑     . (兰 州物 理 研 究竹 )   I   n v e s t   i g a t   i o n  o f   b u r n o u t   me c h a n   i s m i n   m  i c r o wa v e   Ga As   p o w e r   FET s :   P a r t  I .D. C. b u r n o u t   Y u a n   Ze l i a n g   Fa n  Ch u i z h e n   ( L a n z h o u   i n s k ;  ̄ u t e   o F   P h y s i c s )   A bs   L r act   Mi   c 1 " Ow aye  G aA 。 P0W e   r  FE T  C   hi P   f ab   r  c   at e d   by  u   s   W hi c h   aPpe ar  D ・ C ・ bu   r nout   du   r i   ng  t he  t e   s t i   ng   r e  i ave   s t j gat ed  bY  m e ans  of  5 C Bnn―   j  g  e l e ct f on  m j   c T OS C 0PY (SEM ) and  A ……
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