● 测试设备能否准确地测量 SiC 系统的快速开关动态特性？

● 怎样才能准确地优化门驱动性能和死区时间？

● 共模瞬态信号是否影响测量准确度？

● 我看到的振铃是真的吗？还是探头导致的结果？

通过配套使用泰克 IsoVu™ 探头、4 系、5 系或 6 系MSO 示波器及仪器上提供的自动测量功能，设计人员可以解决 SiC 电路级性能验证问题。