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电驱开发核心器件选型静/动态测试痛点
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800V 电驱开发设计流程中，从器件到模块到最终产品/系统，面临复杂多样的测试挑战，文中详细罗列各阶段测试痛点和主要测试项目，并介绍泰克方案优势和产品组合，一文轻松解决。

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