9个方案覆盖第三代半导体功率器件测试全流程，从器件评价与选择、原型板设计验证到产品级验证。泰克为您提供高效、高性价比的测试方案，加速产品上市。
- SiC、GaN器件及模块的静态及动态参数及其在应用级别的准确测试方案
-原型板的电机驱动、纹波测试、环路响应、损耗测试、时序测试
-产品上市前的EMC预一致性测试、温升测试
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