非易失性存储器起源于简单的掩膜只读存储器ROM,随后演变成PROM,再后来成为EPROM。<?xml:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" />
1988年英特尔公布了快速随机存取的NOR闪存,标志着非易失性存储技术走向成熟。尽管EPROM技术已经有了10多年的历史,NOR闪存还是迅速占领了EPROM的市场。而NAND闪存比NOR技术更早,已经有20多年历史了。最初,NAND闪存的年度发货量增幅缓慢,后期则成为市场上炙手可热的产品,其在市场上取得的成功主要归功于它独特的特点。
一直以来,非易失性存储器的读写速度都远不及易失性存储器,寿命(读写次数)也存在固有的局限性,在一定次数的写入操作后,存储器会达到自己的承受极限而出现故障。因此,努力的目标就是让它具备与SRAM类似的存取速度,同时没有读取/写入限制,以及只消耗非常少的功率。就目前来说,还没有任何一款新型的非易失性存储器能够在所有领域都取得优势,但这些存储器均在存储器特性的某些重要方面取得了关键性的进步。nvSRAM、FRAM等产品正在朝此方向努力,目前已经达到的技术水平见下表。
| nvSRAM | FRAM | MRAM |
存取时间(ns) | 15~25 | 100~150 | 35 |
保存年限 | 100 | 10 | 10 |
工作电流@100ns(mA) | 20 | 22 | 30 |
典型待机电流(μA) | 750 | 20 | 9000 |
用户131144 2008-3-8 16:22
用户131144 2008-3-8 16:21
用户1053025 2006-9-15 10:39
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用户17326 2006-9-14 19:53