原创 ICT基本测试原理

1. 电阻测试原理:


1.1 固定电流源(constant Current)模式(mode0)
       对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用,如此才不会因使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测元件,帮其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值.

              RANGE                                     Current
       1欧姆~299.99欧姆                             5mA
       300欧姆~2.99K欧姆                           500uA
       3K欧姆~29.99K欧姆                           50uA
       30K欧姆~299.99K欧姆                       5uA
       300K欧姆~2.99M欧姆                        0.5uA
       3M欧姆~40M欧姆                               0.1uA
1.2 低固定电流源(Low constant Current)模式(mode1)
     该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上若有并联(Parallel)着二极体(Diode)或IC保护二极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因二极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V~0.7V左右,固无法量测出真正的Vr值,为解决此问题,只要将原先的电流源降低一级即可.

              RANGE                              Current
       1欧姆~299.99欧姆                            500uA
       300欧姆~2.99K欧姆                           50uA
       3K欧姆~29.99K欧姆                           5uA
       30K欧姆~299.99K欧姆                         0.5uA
       300K欧姆~2.99M欧姆                          0.1uA

1.3   快速(High-Speed)测试模式(MODE2)


      假如被测电阻并联一个0.3uF以上的电容时,若使用上述固定电流源测试时,需要花费很长的时间,让电容充饱电荷,再去测量出Vr值,而得知R值,如此测试方法将增加ICT测试时间,为解决此问题,可以将固定DC电流源改为0.2V DC固定电压源,直接接于被测电阻两端,如此电容将会在短暂时间内使其Ic=0,故电路上所有电流将流经电阻R.其测量方式为:提供一个0.2V DC电压源,当Ic=0时,再测试流经电阻两端的Ir,因为V=IrR,而V及Ir已知,即可得知电阻R的值.
1.4   交流相位(AC Phase)测试模式(MODE3,MODE4,MODE5)


      由于电路设计关系,被测试电阻将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使用固定电流源方式测试,电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值,故使用AC电压源,利用相位角度的领先,及落后方式而得知被测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrl,因为V及Iz已知,故可得知Zrl,又因为R=Zrl*cosθ,而Zrl及cosθ已知,故即可得知被测电阻R值.

SIGNAL               RANGE(L)            RANGE(R)

1KHz                600uH~60H           5欧姆~300K欧姆

10KHz               60uH~600mH          5欧姆~40K欧姆

100KHz              6uH~6mH             5欧姆~4K欧姆
2. 电容/电感测试原理:


2.1   固定AC电压源(Constant AC Voltage)测试模式(MODE0,MODE1,MODE2,MODE3)

      对于不同阻抗的电容或电感,ICT本身会自动选择一个适当频率(frequency)的AC电压源作为测试使用,其频率计有:1KHz,10KHz,100KHz,1MHz,对于极小阻抗值的电容或电感将需要较高频率的AC电压源,再测量被测元件两端的电压源,由于V=Ic*Zc或V=Il*Zl,而V及Ic或Il已知,故得知Zc=1/2π*f*C或Zl=2πfL,又因f已知,故即可得知电容C或电感L值.

Debug MODE    Signal Source         Capacitor Range             Inductor Range

      0                      1KHz                      400pF~30uF                  6mH~60H

      1                      10KHz                    40pF~4uF                      600mH以下

      2                      100KHz                 1pF~40nF                       6mH以下

      3                      1MHz                     1pF~300pF                    1uH~60uH
ICT后续之发展前景在ICT没有办法改善现有缺陷之状况下，几乎无法成为测试之主流。只能成为最基本之测试，目前对ICT之评价为测试Open,short.一般都不会提到别的功能，因此可想而知。想依靠ICT获得高薪之可能性很低。个人建议学习一下Agilent3070，依照业届之评价，它的发展前景至少在15年内都将处于上流测试系统中。至于飞针测试，个人了解不多，但依照行内他人提供之讯息，飞针测试无法使用于量产，因此此处之发展机会相对比较少。