原创 C-V测量技术、技巧与陷阱——基于数字源表的准静态电容测量

2011-7-26 09:51 1055 5 5 分类: 消费电子

在准静态电容测量[1]中,我们通过测量电流和电荷来计算电容值。这种“斜率”方法使用简单,但是它的频率范围有限(1 ~10Hz),因而只能用于一些特殊情况下。

3.jpg

 

SMU1-力常数   SMU2-测量

图3. 准静态C-V“斜率”测量方法

斜率测量方法只需要使用两台数字源表(SMU)[2]。通过第一台SMU将一个恒定电流加载到待测器件(DUT)的一个节点上。这台SMU还负责测量该节点上的电压和时间。同时,第二台SMU测量DUT另一个节点输出的电流。然后可以利用下列公式计算出电容:

I = C dV/dt or C = I / (dV/dt)

 

这种方法通常可用于测量大小为100~400pF斜率为0.1~1V/S的电容。

 

利用射频技术[3]测量电容

传输线的电容测量通常采用射频技术。其中利用矢量网络分析仪测量散射参数(S参数),即入射波的反射和传输系数。

 



[1] 半导体实验室:http://www.keithley.com.cn/re/sdl

[2] 数字源表:http://www.keithley.com.cn/bak_news/prod022006

[3] 射频技术:http://www.keithley.com.cn/re/nrl

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