原创 TSP-Link——高级方法(并行测试)

2012-11-22 18:30 1040 10 10 分类: 测试测量

测试设置

此配置的通道极数从2变为4。

图1.jpg

 

该指令做的是分两个组闭合3721型1×30磁簧多路选通卡上的通道。按照这个例子,如果我们闭合通道2001,通道2031也将闭合。如果考虑对2602使用的影响,这将有明显的意义。

 

2602是双通道SMU,这意味着当SMUA测试通道2001的DUT时,SMUB能测试通道2032的DUT。只用改变几行指令无需改变硬件,我们就可以引入并行测试。

图2.jpg

 

Set source value to turn LED on=设定源值打开LED

图1.并行测试方法

 

如图1所示,两台SMU都使用相同脚本进行测量,而且触发器还用于循环扫描通道。

 

测试结果和总结

通过TSP和TSP-Link的使用,开关吞吐量从250通道/秒提高至1100通道/秒,这表示吞吐量提高了4倍多。

 

TSP-Link——总结

此应用笔记提示了能通过TSP和TSP-Link的使用提高吞吐量。通过使用2602和3706等高性能硬件和一些创造性思维,能创建专为高速测试和测量优化的定制配置。

 

表1. 测试方法总结

图3.jpg

 

 

方法

开关时间

注释

传统GPIB

20通道/秒至250通道/秒

测试时间随编程风格不同而变化。此方法未利用TSP提升吞吐量的潜能。

基本TSP编程

360通道/秒

使用基本TSP编程缩短了测试时间。TSP编程新手就能获得这些结果。最好有一些C语言背景。

基本TSP和数字触发

850通道/秒

为TSP加入数字I/O触发,用户能实现2倍提升。具有一些仪器编程背景的TSP编程新手或C语言编程新手都能获得这些结果。

高级TSP编程和数字触发

1100通道/秒

经验丰富的TSP程序员或者C程序员只要学习TSP指令都能轻松获得这些结果。最好有一些仪器经验。

 

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