原创 耦合板路径损耗测试

测 试设备 ：

蓝牙综测仪 TC-3000C，耦合器 TC-93060A+TC-93061A，TC-93031A(TC-93021B+夹具)，三星蓝牙耳机，射频标签

测 试目的 ：

耦合器与 DUT 在不同距离下的损耗。

部 分测试 图：

测 试结果 比

测试结论：

1.   Path loss 的影响因素：

1)   DUT 所处的位置；

2)   DUT 的外壳是否金属，以及是否含金属材料。若含金属材料会对 Path lo ss 影响较大；

3)   TC-93060A/61A 在屏蔽箱中距离 DUT 较远时，对 DUT 的位置不太敏感。适用于大屏蔽箱。其他型号一般需要 DUT 贴近耦合器。

2.   耦合器耦合特性：

1)   TC-93060A/TC-93061A 既具有耦合作用又具有天线作用，能产生天线增益。其他型号仅具有耦合作用。两者的损耗特性基本一致，如下图(1)所示。

2)   TC-93060A 耦合最强处位于中心坐标点向上位置，TC-93061A 耦合最强处位于中心坐标点向左位置。

3)   TC-93021B 的耦合位置最强处位于中心坐标点向下。TC-93021A 位于中心区域横向。

4)   TC-5970B 将耦合器 TC-93061A/60A 置顶部时，path loss=42dB