原创 百佳泰全方位SSD质量与效能验证 为IPC服务再升级 II

2015-3-9 16:59 1248 9 9 分类: MCU/ 嵌入式
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3SLCMLC P/E CyclesECC bit

 

除了解决MLC问题之外,厂商也致力研发另一新兴技术iSLC或称A+SLC,藉由调整固件以延长约10倍的MLC寿命,传输效能及重复写次数稳定度直逼SLC,价格介于SLCMLC之间,CP较传统MLC高。

 

储存装置的传输接口,随着传输速率与带宽需求,由早期PATASATA ISATA IISATA III,一路发展至PCIe Gen IIPCIe Gen III。封装大小更随着智能型手机平板计算机等体积轻巧的装置盛行,SSD朝向更高速、低耗能、微型化发展,从2.5”Half SlimM.2mSATAuSSDCFCompactFlash卡等SFFSmall Form FactorSSD产品,发展更加多元化。

 

工业级SSD通常因其作业环境特殊(譬如耐震、防尘、温度忍受范围等),在质量及稳定度方面,相较于消费性SSD其要求更加严格。百佳泰归纳了四大项IPC SSD考虑重点,提供给相关厂商参考以检视SSD质量。首先需注意的是固体可靠度,例如读写效能断电数据流失问题低温和高温是否容易造成内存讯号衰竭等。第二项考虑为软硬件兼容性,一个富有弹性的SSD设计,必须能和不同系统平台、操作系统﹝WindowsLinux等﹞以及应用软件高度兼容;第三,闪存的质量与寿命,无论晶圆片区块挑选、制造以及相关技术皆会影响内存质量;最后是和整体SSD质量有关,包括接口传输速度是否具EMI/ESDPCBA设计等。第一点及第二点以软固件面向切入,第三点和第四点则和硬件相关。

 

针对工规SSD,百佳泰特别开发了相对应验证,基本硬件测试含盖DDR内存讯号管理NAND FLASH管理测试电源消耗测试零组件验证以及总线接口测试。电耗测试包含睡眠模式idledevslp量测4K随机读取/写入,64/128K连续读写耗电量测;零组件验证Component Validation如温度量测Thermal Measurement)、背动组件额定值衰减测试Capacitor/Resistor/Inductor De-rating Test);另外,总线接口Bus Interface相关物理层与协议层测试Logo相符性及插拔测试也是重点之一。

 

固件可靠度测试包含电源中断时数据保护PLP, power loss protection Test测试以及抹写寿命P/E CYCLE)测试,为预防闪存转换层Flash Translation Layer毁坏气温影响亦或是不良ECC设计造成数据流失等潜在危机发生,这时需要靠长时间压力测试Stress Test以及寿命容忍度测试Endurance Test以确认SSD是否具备强韧的保护机制。关于整体效能测试,百佳泰可提供最基本的测试工具,譬如CDMCrystalDiskMarkAS SSD BenchmarkHD TuneATTO DiskI/O效能评测工具如IO MeterVDBench以及微软StorScore等。另可藉由百佳泰用户体验小组,设计不同情境及提供考虑因素,协助验证并解决软硬件兼容性问题。综合以上硬件固件及软件全方位验证服务,我们更期望未来能够结合硬件厂商研发SLC/A+ SLC技术,发挥韧体验证之附加价值。

 

现今IPC朝向云端服务发展,SSD开始取代HDD担任起企业级云端服务器的储存核心,以其更快速的传输速度、IOPSI/O Per Second﹞、延迟时间﹝latency﹞提供企业级应用如档案管理即时消息串流媒体电子邮件企业及信息系统,甚至结合在线购物等多功能角色(参考图标四:企业级云端应用,其效能与可靠性需求较消费性SSD,需要更复杂的技术及验证。企业级效能测试包含以数据库在线交易Database OLTP Benchmark为主的MySQL测试,虚拟化技术的VMwareVMmarkSPECvirtLogin VSI测试以及云端服务测试YCSBYahoo Cloud Service Benchmark,若欲得知更多企业储存设备信息,请参考百佳泰技术文章企业级储存设备(Enterprise Storage)运用趋势与效能评量验证


 

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