原创 HALT高加速寿命试验：快速揭露产品设计缺陷的极限测试推进器

平板笔电Surface Pro 7+ 的各种使用模式。图片出处：Microsoft Community Hub

平板笔电的耐用度风险

一般二合一平板笔电的面板与键盘底座主要采用Pogo Pin或磁吸的连接方式来传递讯号，若是出现设计质量不佳或是选料与组装等前期问题，就容易导致面板与底座间的接触不良，进而影响讯号沟通，造成键盘底座的功能失效(包含键盘、硬盘、I/O扩展槽等皆无法使用)，最终引发客诉问题。

然而麻烦的是，类似这样的产品耐用度风险往往无法在开发阶段被有效地发现，而是要等到产品上市一段时间后才会逐渐浮现。

针对这类型的产品耐用问题，HALT高加速寿命试验(Highly accelerated life test)可尽早发现及预防产品设计上的潜在缺陷。

HALT是一种能够在产品设计初、中期快速检视产品目前在设计上的优缺点，透过设置逐级递增、加严的环境应力，挖掘产品在不同阶段的设计上、制造上及以及使用上等产品弱点及相关缺陷。

HALT试验流程图

我们根据丰富的测试经验提供Root Cause以及debug方向，如需进一步分析并从旁协助，可以让研发工程师在修改设计或更换零件得到正确的方向，进而提升产品可靠度。

合作案例中，就曾经协助厂商的二合一平板电脑进行高加速寿命测试验证。当产品随着步阶式与复合式应力的施加，我们发现转轴左右两端的塑料导轨固定不良、面板与键盘底座磁吸的部分无法吸附，进而造成底座键盘无法打字、硬盘无法辨识的问题，必须调整角度让磁吸部分确实吸住后，才能正常使用。此外，我们也发现屏幕、键盘、电池等零组件上存在着组装及选料等相关问题。

为此，我们利用微型应变传感器黏贴在要观测的产品机构表面上观察其微量型变，包含透过电阻的变化并使用量化来呈现机构的变化，同时也监测housing, PCB等材料表面型变并量化数据，藉此比对前后差异。

除了机构方面的问题，在电性的讯号量测方面，百佳泰为进行问题的分类与识别，也透过软件检测讯号传输封包来帮助客户快速厘清，看看究竟是电力相关问题，还是数据传输信号的问题而导致。

经过环境应力的可靠度测试及HALT测试后，在该平板笔电发现了以下问题：

与一般的环境测试相比，使用复合应力的HALT测试可在更短的时间内发现早期的产品问题。

在这个案例中，我们发现在真实使用情境下，使用者只要使用一段时间后也会发生同样的问题，不仅严重影响使用者体验，同时也大大降低未来的购买意愿。因此百佳泰顾问团队在提出问题并给予调整建议后，该厂商决定提前改善了Pogo Pin的设计强度与电路板上零组件选料等程序后，也避免了往后可能需要面临的维修及换货风险。