原创 4156A 精密半导体参数分析仪

高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA至1 A（20 fA偏移精度），V：1μV至200 V.采用直流或脉冲模式的全自动IV扫描测量，S多可扩展至6个SMU

同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元（±40 V）

时域测量：60μS可变间隔，S多10,001个点易于使用：旋钮扫描类似于曲线追踪器，自动分析功能

自动化：内置HP Instrument BASIC，触发I / O功能

Agilent HP 4156A是下一代精密半导体参数分析仪。您可以获得S佳的数字扫描参数分析仪，可靠性测试仪，功能强大的故障分析工具和自动化的输入检测站，所有这些都集成在一台仪器中。

这个新系列的设计旨在为评估亚微米几何设备提供精度和功能。使用一台灵活的仪器，您可以从材料评估和器件特性一直到S终的封装零件检测和现场故障分析，从而提高半导体质量。

Agilent HP 4156A提供四个内置源/监视器单元（SMU），两个电压源单元（VSU）和两个电压监视器单元（VMU）。Agilent HP 4156A将电流分辨率扩展至1 fA，精度达到20 fA

Agilent HP 4156A在每个SMU上使用全开尔文遥感。

您可以随时添加Agilent HP 41501A SMU和脉冲发生器扩展器，它配有0 V / 1.6 A接地单元。扩展器可接受两个100 mA / 100 V SMU或一个1 A / 200 V SMU，以及两个特殊同步的40 V / 200 mA /1μs脉冲发生器。

商品详情；

4156A 精密半导体参数分析仪

高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA至1 A（20 fA偏移精度），V：1μV至200 V.

采用直流或脉冲模式的全自动IV扫描测量，S多可扩展至6个SMU

同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元（±40 V）

时域测量：60μS可变间隔，S多10,001个点

易于使用：旋钮扫描类似于曲线追踪器，自动分析功能

自动化：内置HP Instrument BASIC，触发I / O功能

Agilent HP 4156A是下一代精密半导体参数分析仪。您可以获得S佳的数字扫描参数分析仪，可靠性测试仪，功能强大的故障分析工具和自动化的输入检测站，所有这些都集成在一台仪器中。

备注：以上仪器我们公司大量回收，有意出售者，请联系

东莞市欧诺谊电子仪器有限公司

联系人：肖经理  13560813766

地址：东莞市塘厦镇宏业北路148号升联大厦508室