原创 HP4155A半导体

P4155A 半导体参数分析仪 惠普4155A

采样（时域）测量，而无需变动连接。进而，对于可靠性评估还可做应力循

环测量，

例如热载流子的注入和快速EEPROM测评。

可通过前面板键，键盘，或GPIB（SCPI命令）多种途径通过设置页面和添入空格进行

设定和测量，还可通过钮扫描功能进行短暂测量和查寻设定一类似于曲线描

图仪。

显示和分析测量和分析结果显示在彩色的LCD上，可由4个图形存贮器做存贮

器做存贮，以便分析。比较。强有力的分析手段，使得很容易对诸如hFE,Vth等多种参数进行抽取。

一旦查得参数抽取条件，则可通过-自动分析功能自动地取得。输出和存贮

设定、测量，分析数据均可由GPIB，燕行或网络接口10Base-T LAN输出至彩色绘图仪和打印机，

也可通过网络或3.5寸盘存贮在MS-DOS或LIF格式文件中。Graphic(Agilent-GL,PCL功TIF）

输出文件还允许将图形转换为桌面出版软件。重复和自动测试

Agilent 4155B的 Agilent仪器BASIC控制器，可在无控制器的外部仪器构

成自动测量系统。

主要特点及优点：

  在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告，有利于保持高速生产效率

  可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作

  内置的“源存储器”可编程序列发生器 多可存储100个不同的测试，以满足高速生产的需要

  高达75000小时MTBF的可靠性设计，为不中断生产环境提供了良好的可靠性

  内置的比较器简化了pass/fail测试

  数字I/O支持快速键合或连接到元件机械手

  0.012%的 度，5?的分辨率

备注：以上仪器我们公司大量回收，有意出售者，请联系

东莞市欧诺谊电子仪器有限公司

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