周岩，朱玉龙 汽车电子设计
这篇文章，前段时间就看到周岩兄写了在EDN上整理出来。在每个技术分支上，其实人都能体现价值，只不过如果你去做BCM，现在体现不出差异；做EPS，又不会有整车企业给你机会，从功能安全这种理念性的入手，是短期内变得有价值，又有长期专研的空间的。
以下为周岩论述的基本分析框架，谈的主要是MCU如何失效的问题。
1）MCU 的电源
某公司 MCU电源的拓扑如下：
Logic supply VDD ，供给 MCU内部 Core---CPU 的电源，一般电压约 1.8V。当电源电压 <1.8V ，CPU 可能会出现故障。
VDDF ，供给 MCU内部 Flash 读写，一般电压约 2.8V。当电源电压 <2.8V ，进行读写操作可能会损坏 Flash
MCU 内部的 LVR（ low voltage reset ）在电源电压 <4.2V，会发生 Reset ，强制终止MCU 工作。
那么问题来了：如果要准确地 ” 识别低压“ 这个异常工况，很显然需要 LVR 具备在更低电压下工作的能力。
MCU 内部用 bandgap来实现这一要求， bandgap 的工作电压一般为 1.25V，即用 1.25V 来识别4.2V 。
2） MCU 的运算核心 Core
CPU 是大脑，负责计算和逻辑。
对于单核 MCU来说，解决这个问题比较棘手，没特别好的办法。大脑往往是不知道大脑出问题了。
主 /辅 MCU 呢，是通过分立的 2个 CPU ，2 个大脑相互比较（ comparison ）来纠错。
双核MCU ，比较科幻了，不分立，直接在一个机体内长出 2 个大脑，冗余 2个 CPU 核来降低失效率；
3）MCU 的时钟
MCU 一般有三路独立时钟的来源：
1 ）晶体振荡器或陶瓷振荡器的时钟
2 ）内部 RC振荡的时钟，一般频率为 1MHz
3 ）来自 API(Asynchronous periodic interrupt)的时钟，一般频率为 10KHz
有了三路时钟来源，还得辅以复杂的时钟拓扑，可以降低 ” 时钟丢失而程序跑飞 “的风险。
4）MCU 的存储器
受电气环境和宇宙射线的影响， Flash /EPROM/RAM 会发生其内存储的数据发生 0<->1 跳变。
存储器1bit 出现错误，可能还好。但是，骨感的现实中 2bit 以上的跳变是存在的。
于是，出现了 ECC技术（ Error Correcting Code ）循环冗余校验码，可以实现 1bit 错误能被纠正过来， 2bit以上的错误能被检测。
由于ECC 的原理还是挺复杂的，此处省略。 ECC 的实现可软件或硬件。硬件 ECC 的好处就是节省 MCU资源。
5）指令
顺便提一下， ECC好比可以保证存储在电脑硬盘上数据是可靠的。
那问题来了，如果读取电脑硬盘的命令出错了，比如本意是读取一个文件夹的内容，结果命令被篡改成 ” 删除这个文件夹 “的命令了。
于是，发明了 CRC（ Cyclic Redundancy Check ）循环冗余校验码。
6）MCU 的外设： I/O
MCU 的外设众多，此处仅展示 I/O 的失效问题。
整个回路每个支线都有可能失效。
比如MCU 的 die -> 封装 pin 脚 -> 外围设备等之间
那么，通过回采提高诊断覆盖率是个好办法，但是回采回路也存在支线 ” 外围设备 -> 封装 pin脚 -> MCU 的die“ 。
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