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用户1627235 2011-8-8 12:05
吉时利2651A详尽信息免费下载资源共享
吉时利技术资料下载啦 ! ——使用最新 2651A 型大功率数字源表实现高功率 / 高电流测量的应用套件                   ...
用户1627235 2011-8-8 09:56
超快I-V测试系统面临的挑战
·          波形发生 。 标准脉冲发生器和任意波形发生器的设计是在固定循环间隔上产生波形,而不是大多数可靠性测试 ...
用户1627235 2011-8-5 11:38
展望下一代超快I-V测试系统
要想成为主流测试技术,下一代 超快 I-V 测试 系统必须具有很宽的源与测量动态量程。这意味着它们必须能够提供对闪存器件进行特征分析所 ...
用户1627235 2011-8-4 13:54
吉时利技术资源共享啦!——经济有效、高性能的吉时利源和测量方案 /2651A型大功率数字源表产品信息
经济有效、高性能的吉时利源和测量方案 /2651A型大功率数字源表产品信息共享给大家。请点击以下链接。如有对于应用配置的任何问题请提出,我们的一位应用/支持 ...
用户1627235 2011-8-4 10:28
I-V测量技术的发展
与直流电流 - 电压( I-V )和电容 - 电压( C-V )测量一样, 超快 I-V 测量 能力对于特征分析实验室中所有负责开发 新材 ...
用户1627235 2011-8-3 17:16
C-V测量技术、技巧与陷阱——C-V测量误差II
线缆长度补偿 是一种经常被忽视的 校正技术 。它是针对仪器厂商提供的某些特殊线缆进行相位偏移校正的。交流信号沿着线缆传输需要一定的时间,其在测量结果上 ...
用户1627235 2011-8-3 11:48
吉时利技术资源共享啦!——如何克服高亮度LED特性分析与测试挑战/2651A型大功率数字源表价格信息
吉时利《克服高亮度LED特性分析与测试挑战》CD 及2651A型大功率数字源表价格信息共享给大家。请点击以下链接。如有对于应用配置的任何问题请提出,我们的一位应 ...
用户1627235 2011-8-2 10:38
C-V测量技术、技巧与陷阱——常见C-V测量误差 I
偏移 和 增益误差 (如图 7 所示)是 C-V 测量中最常见的误差。 X 轴以对数标度的方式给出了电容的真实值, ...
用户1627235 2011-8-1 09:55
C-V测量技术、技巧与陷阱——C-V吉时利全新接线技术
  将屏蔽层连接在一起 屏蔽层                                                      ...
用户1627235 2011-7-29 10:34
C-V测量技术、技巧与陷阱——C-V测量技术连接与校正 I
尽管很多 C-V 测量技术本身相对简单,但是以一种能够确保测量质量的方式实现 C-V 测试仪与探针台的连接却不是那么简单。目前探针台使用的机械手和探针卡多 ...
用户1627235 2011-7-28 09:58
C-V测量技术、技巧与陷阱——C-V测量参数提取的局限性
在探讨 C-V 测试系统的配置方法之前,了解半导体 C-V 测量技术 的 局限性 是很重要的: ·          电容:从 10fF ...
用户1627235 2011-7-27 17:12
C-V测量技术、技巧与陷阱—— C-V测量方法与应用的匹配
交流阻抗技术 是最常用的 电容测量技术 。它最适合于一般的低功率门电路,也适用于大多数测试结构和大多数探针。其优势在于所需的设备相 ...
用户1627235 2011-7-26 10:11
C-V测量技术、技巧与陷阱——基于数字源表的准静态电容测量
在 准静态电容测量 中,我们通过测量电流和电荷来计算电容值。这种 “斜率”方法 使用简单,但是它的频率范围有限( 1 ~ 10Hz ) ...
用户1627235 2011-7-25 10:06
C-V测量技术、技巧与陷阱——交流阻抗电容计以及交流阻抗参数的测量方法
交流 阻抗表 ,也称为 LCR 表 (电感 、电容 、电阻 ),利用一个自动平衡电桥保持电容的检测端交流假接地 ...
用户1627235 2011-7-22 10:08
C-V测量技术、技巧与陷阱概述
在之前的文章 “ 半导体 C-V 测量基本原理 ”中曾经谈到过,电容 - 电压测试长期以来被用于判断多种不同器件和结构的各种半导体参 ...
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