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用户1627235 2011-8-30 11:02
如何从器件基本特性入手开展精确、成本经济的高亮度LE
  吉时利专家邀请您首先了解“ 高亮度 LED 测试 ( HBLED) 体; FONT-SIZE: 10pt"” 高亮发光二极管( High brightness light e ...
用户1627235 2011-8-29 09:43
纳米测量最优解决方案
  本文仅仅探讨了 纳米技术 的多种应用中的少数几个,以及需要更为深入地理解所研究的器件和材料时必须采用的测量方法。每天,各研发实验室 ...
用户1627235 2011-8-26 10:32
纳米电测量的实例分析II
为了对这里所示的三种示例进行 I - V 特性测试,我们建议使用各种不同的商用 I - 特性测试 工具。有些源-测量一体单元还可以更低的成本提供相同的测 ...
用户1627235 2011-8-25 10:43
纳米电测量的实例分析I
碳纳米管的特性使得它们成为一种出色的 电子元件材料 。图 6 示出了 FET 结构所使用的 碳纳米管 。为了发现器件的 ...
用户1627235 2011-8-24 13:22
纳米测量与DUT的电连接的秘密
为了与 纳米器件 或者 元件 实现电接触,必需提供相应的夹具、显微镜和 探针系统 。当今的纳米研究者正在使用诸如原子力显 ...
用户1627235 2011-8-23 16:35
温度对纳米测量的影响是什么?
热电压或者 EMF 是 ref="http://www.keithley.com.cn/llm/a/30.html" 低电压测量 中最常见的 误差源 。如图 5 所示,当电路的不同部分处于 ...
用户1627235 2011-8-22 14:37
纳米测量中屏蔽罩的重要作用
电缆的不当使用会造成测量时间过长的问题。共轴电缆提供了一个传输信号的内导体和屏蔽。内导体和屏蔽之间存在着可供 漏电流 流过的旁路电阻和 电容通路 ...
用户1627235 2011-8-19 10:30
纳米测量电流误差解决方案
其他应对 移动和振动 问题的解决方案包括: ?除去振动源或者与振动源间在机械上解耦。电机、水泵和其他机电装置都是常见的 振动源 ...
用户1627235 2011-8-17 10:03
纳米测量电流误差来自哪里?
要测量弱电流,就必须理解各种潜在的 误差源 ,这些误差会造成人们所不希望出现的 测量误差 。影响多种类型的 纳米电子 ...
用户1627235 2011-8-16 09:57
纳米测量中学习曲线和灵敏度/分辨率的挑战
仪器操作中繁琐的 编程 工作以及神秘的种种细节会分散工作繁重的研究者的精力。许多 电特性测 量工具 都极为复杂,而且 ...
用户1627235 2011-8-15 09:56
纳米测量的基本原理
对纳米元器件的电测量——电压、电阻和电流——都带来了一些特有的困难,而且本身容易产生 误差 。研发涉及量子水平上的材料与元器件,这也给人们的电学测量工 ...
用户1627235 2011-8-12 13:54
纳米电测量中存在的挑战
研究者们在试图进行灵敏的测量之前,还必须理解一些纳米电测量中存在的挑战。 这些挑战包括: ? 测量的基本原理 ?学习曲线 ...
用户1627235 2011-8-11 10:05
纳米技术所需的电测量方法— 概述
具有广泛且多样化应用的 纳米科学技术 ,推动着研究者不断运用 碳纳米管 、化学分子、量子点、甚至聚合物研 ...
用户1627235 2011-8-10 12:01
超快I-V源和测量技术的应用
超快 I-V 源 和测量技术随着越来越多传统直流 I-V 测量功能的消失而迅速发展。注意到,传统 SMU 设计 能够提供和测量最高约 1A 的电 ...
用户1627235 2011-8-9 10:08
最新一代的超快I-V测试系统参数分析仪
最新一代的 参数分析仪 可以通过配置最大限度减少或消除很多与内部构建的 BTI 特征分析系统 相关的缺陷。它们不是采用分离的脉冲或波形发生器与示波 ...
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