用户1627235的文章-第15页-面包板社区

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用户1627235 2011-12-21 16:49: “迈步在脉冲测试之前”—脉冲校准; 运行 AutocalScope 在进行任何脉冲校准之前，应运行AutocalScope。为了获得最佳的脉冲 IV 结果，也应在当天的第一个实验之前运行AutocalSc ...; 1844 26 0 26

测试测量 4200-scs 探针晶圆

用户1627235 2011-12-20 16:04: 需牢记的脉冲IV测试的设置步骤; 4200脉冲IV测量CMOS晶体管进行脉冲IV测试时，步骤如下：设置4200-SCS，参考 4200-SCS 的快速入门指南和4200-SCS的参考手册。设置和连接 420 ...; 2855 23 0 23

4200-scs 4200-piv 4200-scs应用手册电缆探针

用户1627235 2011-12-19 10:35: 4200脉冲IV测量CMOS晶体管时探针如何互连？; 4200- PIV 包无需重新布线或切换，可以给 DUT 引脚提供直流和脉冲能力。这种能力的关键是4200-RBT远程偏置 T 型接头，它采用无源电器元件将低频直 ...; 1606 14 0 14

探头直流

用户1627235 2011-12-16 14:26: scope-shot用户测试模块（UTM），您了解多少呢？; scope-shot 用户测试模块（ UTM ）是一个通用的实用工具，用于验证，调试和样机的瞬态测试。 UTM以固定值的方式给DUT门施加了一个脉冲链，给 DUT ...; 2012 17 0 17

示波器 dut 用户测试模块门极电压漏极电流

用户1627235 2011-12-15 16:52: 图释4200脉冲IV测量CMOS晶体管中直流Vgs-id测试; 本文以图示的方式与大家分享直流 Vgs-id 测试的步骤：传统的只有直流的 Vgs-id 和通过 4200- RBT ，偏置T型接头的直流IV测试之间的主要区别是SMU的 ...; 2331 21 0 21

脉冲测试测量直流 vgs-id dut 晶体管

用户1627235 2011-12-14 17:26: 4200项目：PulseIV-Complete; 该项目包括4200-PIV包的所有脉冲源和脉冲测量测试。此项目用于客户设备的测试和4200-PIV包的演示。 PulseIV-Complete项目对于脉冲校准和“4terminal-n-FET ...; 1840 18 0 18

测试测量

用户1627235 2011-12-14 17:18: 脉冲Vds-id 的测试参数; 漏极电压Vd，从0至4V进行扫描，在每个Vd扫描之后，门极电压Vg步进到下一个数值。传统的只有直流的Vds-id和通过4200-RBT偏置T型接头的直流IV测试之间的主要区 ...; 2286 17 0 17

ts 电压脉冲测试漏极电压门极

用户1627235 2011-12-14 17:16: 4200脉冲IV测量CMOS晶体管初始化测试; AutocalScope –运行 4200- SCP2 自校准和偏移测量的程序。在每一个 PulseIV cal 之前，应该运行此程序，并定期捕获SCP2的任何漂移。它要求从示波器中删除 ...; 1339 16 0 16

cal 测试测量

用户1627235 2011-12-9 11:34: 4200脉冲IV测量CMOS晶体管系统配置; 4200- PIV 包在 4200- SCS 主机更高编号的插槽中增加了2个卡，如图2所示。此外，脉冲IV的互连也显示在图2和3中。图2. PIV的连接图 ...; 1629 13 0 13

测试测量 ts

用户1627235 2011-12-8 09:54: 4200-PIV脉冲IV包简介; 什么是脉冲 IV 脉冲 IV 为用户提供了使用脉冲而非直流信号在设备上运行参数曲线扫描的能力。带相应脉冲测量的脉冲源的使用，通常有两种方法。 ...; 1589 13 0 13

测试测量 ts

用户1627235 2011-12-8 09:53: 4200脉冲IV测量CMOS晶体管测试开始; 在测试开始时，被测设备（DUT）的漏极由SMU2产生偏置，并等待门极脉冲开通晶体管产生漏极电流Id。 A：门极电压脉冲：这个波形是 4200-PG2 通道1 ...; 1473 23 0 23

功率电压

用户1627235 2011-12-7 11:32: 4200脉冲IV测量CMOS晶体管工作原理; 本文补充了 4200- SCS 应用手册第四章节脉冲IV部分信息。双击4200桌面上的Complete Reference图标得到所有4200的文档。通常而言， 4200- PIV 给门 ...; 1452 14 0 14

测试测量 ts

用户1627235 2011-12-6 11:21: 4200脉冲IV测量CMOS晶体管的目标应用和测试项目; 4200-PIV 包涵盖解决最常见参数晶体管测试的测试项目：Vds–id和Vgs-id。这两个测试提供直流和脉冲两个模式，允许两种测试方法之间的相关性，并已配置用于 ...; 1536 14 0 14

ts ns

用户1627235 2011-12-2 13:49: 利用6517A型静电计/高阻表对惰性气体或高真空中的小型晶体高值电阻进行测量的总结; 利用吉时利 6517A 型静电计，可以在高达1000V的高压下实现低噪声（未滤波1fA p-p ）电流测量。利用精心设计的测量室和质量优良的绝缘体，可以完全避免 ...; 1302 24 0 24

6517a型静电计绝缘体低噪声薄膜电荷载体有机薄膜

用户1627235 2011-12-1 14:02: 利用6517A型静电计/高阻表对惰性气体或高真空中的小型晶体高值电阻进行测试的系统安全性; 在使用尺寸较小的样本进行测量时，电极之间有可能发生电气短路或击穿。为了防止出现过高电流，应当在电路中设置保护电阻，将电流限制在1mA以下。许多电子测试 ...; 1507 27 0 27

危险电平测试夹具双重绝缘压缩气体

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