资料
  • 资料
  • 专题
Agilent 81250 用于平面显示器链路测试
推荐星级:
类别: 测试测量
时间:2020-01-02
大小:1.36MB
阅读数:135
上传用户:quw431979_163.com
查看他发布的资源
下载次数
0
所需E币
3
ebi
新用户注册即送 300 E币
更多E币赚取方法,请查看
close
资料介绍
本文重点介绍了使用两个时钟组的解决方案,它可以有效地在DUT并行一侧利用PRWS的特性。应该指出,也可以只使用一个时钟组执行测试。在这种情况下,对DUT的输出的取样速率要7倍于其数据的变化速率。不能从内置的PRWS特性中获得预期数据。但可借助于对黄金标准器件进行采样,或通过使用“BestLink 81200”软件从仿真中获得预期数据。本产品指南重点介绍了针对具有LVDS输入和输出的LVDS器件的测试,其支持的最小振幅为250mV。 ^áí=UNORM !"#$%&'( = ! "#$% NWT !"# $%& T !"#$%& ! = !"# isap Eisap SR=jeò !" i`a !"#$%&'( ===Z= !"#FI !" !"#$%&'( ! !"# !"#$%& ===ORM=s !"#$% QRM=jeò Esd^J[ud^J[psd^F !" kow !"# qu ou !"#$%& NKU=dé !"#$% !"# T ! N o !"#E_boF ou EisapFNKU=dé……
版权说明:本资料由用户提供并上传,仅用于学习交流;若内容存在侵权,请进行举报,或 联系我们 删除。
PARTNER CONTENT
相关评论 (下载后评价送E币 我要评论)
没有更多评论了
  • 可能感兴趣
  • 关注本资料的网友还下载了
  • 技术白皮书