Agilent 81250 用于平面显示器链路测试
时间:2020-01-02
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资料介绍
本文重点介绍了使用两个时钟组的解决方案,它可以有效地在DUT并行一侧利用PRWS的特性。应该指出,也可以只使用一个时钟组执行测试。在这种情况下,对DUT的输出的取样速率要7倍于其数据的变化速率。不能从内置的PRWS特性中获得预期数据。但可借助于对黄金标准器件进行采样,或通过使用“BestLink 81200”软件从仿真中获得预期数据。本产品指南重点介绍了针对具有LVDS输入和输出的LVDS器件的测试,其支持的最小振幅为250mV。 ^áí=UNORM
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