EOS & ESDEOS or ESD ESD - Electro-Static Discharge “Equalization of different electrostatic potentials between two or more objects” EOS - Electrical Over-Stress “An electrical event that is outside the specified range of the device under test” (Latch-up) EOS E-electrical O-over S-stress EOS 指过电应力，当外界电流或电压超 过器件的最大规范条件时， 器件性能会 减弱甚至损坏。 EOS和ESD的区别 EOS: 典型地，有电源和测试设备 产生 事件持续时间在微秒-秒级 （也可能是毫秒级） 损坏的现象包括 金属线融 化、发热、高功率、闩锁效 应。 短的EOS脉冲损坏看起来 像 ESD损坏 ESD: ESD是EOS的一种，有限的 能量，由静电荷引起。 事件持续时间在微微秒-毫 微秒级。 损坏位置不易发现，通常只 破坏晶体管级。 引起EOS的常见原因 1. 闪电 2. 测试程序开关引起的瞬态/毛刺/短时脉冲波形干扰。 3. 电源噪声和过电压 4. 落后的测试技术，比如在对器件供电之前加入测试信 号，或超过最大操作条件。 5. 来自其他设备的脉冲信号干扰 6. 不恰当的工作步骤 7. 接地点反跳（由于接地点）不够导致电流快速转换引 起高电压。 EOS表现 避免EOS 一.电源 1.在使用AC电源时，电路中应有暂态抑制器（滤波器）。 2.为电源配置过电压保护。 3.为AC电源提供电压稳定装置。 4.电源序列发生器保证按次序电压的上升和下降。 5.在大电流设备之间不共享滤波器和电压稳定装置。 ……