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功率晶体管特征参量测量的简介
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类别: 消费电子
时间:2020-01-14
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www功率晶体管特征 参量测量的简介 @PHOTODISC Fabien De Groote, Jean-Pierre Teyssier, Tony Gasseling, Olivier Jardel, Jan Verspecht 我们将在本文中介绍功率晶体管特征参量的测量:为什 么这些参量测量非常重要,为什么说这是一个如此复杂 的,高度专业化的领域,以及我们对功率晶体管特征参 量测量技术发展方向的看法。为了达到这个目的,我们 不惜冒着过于简化问题的风险,而采用了简单的例子和 说明。而对于那些想要深入了解这个课题的读者们,我 们为他们提供了大量的参考文献。需要注意的是,所罗 列的参考文献目录还很不全,但我们坚信这已足以为大 家提供一个良好的开端。如果您已经是该领域的专家, 那么您恐怕不会从中得到什么新的信息;不过,我们希 望您仍可享受一下阅读的乐趣。值得注意的是我们尽可 能局限于特征参量问题本身,只有当对描述晶体管的特 征有用时,才考虑有关建模问题。 为什么功率晶体管特征参量提取很重要 微波功率放大器是无线通信工业中的主力军。它将直流 功率转化为复杂的穿越空间来实现无线通信的无线电波。 ____________________________________________________________ Fabien De Groote is with Verspecht-Teyssier-DeGroote, Brive-la-Gaillarde, France. Jean-Pierre Teyssier and Olivier Jardel are with XLIM, Limoges, France. Tony Gasseling is with AMCAD Engineering, Limoges, France. Jan Verspecht is with Jan……
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