计算机系统信号完整性测试分析技术（总体概述）计算机系统 信号完整性测试分析技术 Tektronix EVDC:孙灯亮 deng.liang.sun@tektronix.com TEL:13311666265 目录 数字电路中的信号完整性设计挑战 数字电路中的信号完整性测试挑战 泰克（ Tektronix）信号完整性测试分析仪器、探头和软 件简介 计算机硬件开发流程简介和信号完整性测试分析的嵌入 计算机硬件架构简介和信号完整性测试内容分析 计算机系统典型的测试专题介绍 现代电子设计的挑战 不断缩小的特 征尺寸 高速问题更加突出 信号边缘速率越来越快 片内和片外时钟速率越来越高 系统和板级ＳＩ、ＥＭＣ问题更加突出 电路的集成规模越来越大 Ｉ／Ｏ数越来越多 单板互连密度不断加大 推向市场的时间不断减少 开发成本成为主要推动力 一次性设计成功的挑战 越 来越强的电路功能 (SOC) 物理实现难度加 大 越来 越强的市场竞争 设计周期缩 短 Signal Integrity 信号完整性定义 4 SI（ SIGNAL INTEGRITY），即信号完整性，是近几年 发展起来的新技术。 4 SI解决的是信号传输过程中的质量问题，尤其是在高速领 域，数字信号的传输不能只考虑逻辑上的实现，物理实现 中数字器件开关行为的模拟效果往往成为设计成败的关键 。 Text-Book View of Digital Signals Logic Signal +5 Volt Supply Ground 1 0 1 0 1 0 Real View of Digital Signals (analog) Logic Signal +5 Volt Supply Ground SI：新概念，旧方法 SI应用的是传统的传输线、电磁学等理论，以及复杂的算法 ，解决以下几个方面的问题： *反射； *串扰； *过冲、振铃、……