随着芯片规模的增大和复杂度的上升，片内信号的观测和控制更加困难，对芯片的测试及调试的难度也在不断上升，芯片的测试和调试问题成为制约整个行业发展的重要因素。如何合理地对数字信号处理器进行可测性设计、建立调试支持成为数字信号处理器设计的核心问题之一。
