SDRAM 内存系统: 嵌入式测试和测量挑战 DRAM (动态随机访问存储器)对设计人员特别具有吸引力，因为它提供了广泛的性能，用于各种计算机和嵌入式系统的存储系统设计中。本DRAM 内存入门手册概括介绍了DRAM 的概念，展示了DRAM 可能的未来发展方向，并概括了怎样通过验证来改善内存设计。 入门手册 SDRAM 内存系统： 嵌入式测试和测量挑战 SDRAM 内存系统：嵌入式测试和测量挑战 入门手册 目录 引言3-4 DRAM发展趋势3 DRAM4-6 SDRAM6-9 DDR SDRAM6 DDR2 SDRAM7 DDR3 SDRAM8 DDR4 SDRAM9 GDDR 和 LPDDR9 DIMMs9-13 DIMM 物理尺寸9 DIMM 数据宽度9 DIMM 排列10 DIMM 内存尺寸和速度10 DIMM 结构10 串行位置检测12 内存系统设计13-15 设计仿真13 设计检验13 检验策略13 SDRAM检验14 词汇表16-19 2 www.tektronix.com.cn/memory SDRAM 内存系统：嵌入式测试和测量挑战 入门手册 引言 第一，内存必需兼容计算机制造商使用的各种内存控 DRAM (动态随机访问存储器)对设计人员特别具有吸引 制器中心； 力，因为它提供了广泛的性能，用于各种计算机和嵌入 第二，在计算机的同一内存系统中混合使用不同制造 式系统的存储系统设计中。本 DRAM 内存入门手册概 商……