尽管对于精准的可靠性验证的需求已显著增长，但使用现有的验证技术确保 IC 可靠性一直是 IC 设计公司面临的重大挑战之一。技术节点尺寸的缩减加上不同类型的设计应用的快速增长，让该问题变得更加复杂，增加了需要的可靠性检查数量及其复杂性。所有这些因素都在有力地推动对于准确的自动化芯片可靠性验证方法的需求。

不同的 IC 设计具有不同的可靠性要求和关注点，在验证期间必须使用各种可靠性检查对其进行评估。通常可通过选择和利用规则检查的组合来满足多种验证需求，其中每项检查集中处理一个特定的方面，从而实现完整的可靠性验证覆盖。作为说明，我们来看两项设计应用，一项为多电源域设计，另一项为模拟设计。这些应用描述了应如何运用不同的可靠性检查，针对不同的设计提供全面的可靠性验证覆盖。在实际设计流程中，可能还需要额外的检查才能实现所需的全面、严格的可靠性验证。

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