失效分析，产品试验认证一定要细看的资料！-专题系列资料下载-面包板社区

1、焊点失效分析与案例

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焊点失效分析技术及案例……

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2、芯片失效分析方法及步骤

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芯片失效分析方法及步骤

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3、 MEMS惯性测量组合失效分析.pdf

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MEMS惯性测量组合失效分析.pdf

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4、多级装联电源板二极管焊点开裂失效分析

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多级装联电源板二极管焊点开裂失效分析

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5、航天型号用直流开关电源失效分析研究

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航天型号用直流开关电源失效分析研究

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6、解决晶圆级封装难题的新方案

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解决晶圆级封装难题的新方案

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7、晶圆级封装技术

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晶圆级封装技术……

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8、晶圆级封装中的厚膜光刻胶应用

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晶圆级封装中的厚膜光刻胶应用……

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9、晶圆级封装热机械失效模式和挑战及整改建议

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晶圆级封装热机械失效模式和挑战及整改建议

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10、晶片验证测试及失效分析

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非常好的一篇芯片测试验证和失效分析的流程，方法

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11、失效分析手册

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失效分析参考手册失效分析参考手册（初稿）QAMacau,May02目第1.11.21.31.41.5第1章制失本本……

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12、某电源芯片μvia开裂失效分析及风险评估

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删除某电源芯片μvia开裂失效分析及风险评估

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13、直流电源系统运行失效案例解析

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直流电源系统运行失效案例解析

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14、 POWER开关电源芯片应用静电损伤失效可靠性研究与提升

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POWER开关电源芯片应用静电损伤失效可靠性研究与提升

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15、 IGBT在电路设计中需要遵守的准则，为什么IGBT会在电路中失效？.pdf

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IGBT在电路设计中需要遵守的准则，为什么IGBT会在电路中失效？.pdf

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16、 IGBT在电路设计中需要遵守的准则，为什么IGBT会在电路中失效

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IGBT在电路设计中需要遵守的准则，为什么IGBT会在电路中失效

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17、一种DSP芯片的失效分析

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一种DSP芯片的失效分析

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18、一种DSP芯片的失效分析

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一种DSP芯片的失效分析

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19、失效分析实验室海报

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失效分析实验室海报，北京第三方实验室

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20、变频空调开关电源电路开关芯片炸失效分析与研究

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变频空调开关电源电路开关芯片炸失效分析与研究

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21、 IGBT,IGCT和IEGT分别是什么？IGBT失效的罪魁祸首到底是什么？.pdf

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IGBT,IGCT和IEGT分别是什么？IGBT失效的罪魁祸首到底是什么？.pdf

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22、 IGBT,IGCT和IEGT分别是什么？IGBT失效的罪魁祸首到底是什么

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IGBT,IGCT和IEGT分别是什么？IGBT失效的罪魁祸首到底是什么

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23、可靠性设计——电子元器件的失效分析

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可靠性设计——电子元器件的失效分析

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24、基于“失效模式-失效机理-分析模型”的电子产品可靠性分析应用

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基于“失效模式-失效机理-分析模型”的电子产品可靠性分析应用

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25、【陈桥梁博士】反激电源的定量关系及浪涌失效情况分析

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【陈桥梁博士】反激电源的定量关系及浪涌失效情况分析

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26、引起IGBT失效的原因与保护方法.pdf

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引起IGBT失效的原因与保护方法.pdf

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27、引起IGBT失效的原因与保护方法.pdf

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引起IGBT失效的原因与保护方法.pdf

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28、引起IGBT失效的原因与保护方法

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引起IGBT失效的原因与保护方法

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29、通信产品失效分析方法及应用实例分析

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通信产品失效分析方法及应用实例分析

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30、可靠性设计——电子元器件失效分析技术与案例

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可靠性设计——电子元器件失效分析技术与案例

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31、基于失效分析的电子可靠性工程技术实践

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基于失效分析的电子可靠性工程技术实践,基于失效分析的电子可靠性工程技术实践……

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32、一文搞懂封装缺陷和失效的形式

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一文搞懂封装缺陷和失效的形式

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33、电子元器件失效分析经典资料

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电子元器件可靠性和失效分析(共40篇)172页4.0M……

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34、电子器件失效分析技术

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电子器件失效分析技术电子元器件失效分析技术信息产业部可靠性分析中心基本概念和失效分析技术第一部分失效的概念失效定义1特性剧烈或缓慢变化2不能正常工作3不能自愈失效种类1致命性失效：如过电应力损伤2缓慢

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35、【陈桥梁博士】LLC电路设计原理及电路失效分析

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【陈桥梁博士】LLC电路设计原理及电路失效分析

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36、贴片电感失效原因分析

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贴片电感失效原因主要表现在五个方面，分别是耐焊性、可焊性、焊接不良、上机开路、磁路破损等导致的失效，下面将就这五点做出解释。

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37、半导体芯片失效分析方法及步骤.pdf

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半导体芯片失效分析方法及步骤.pdf

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38、芯片失效分析实验室介绍

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芯片常用分析手段： 1、X-Ray无损侦测，可用于检测 IC封装中的各种缺陷如层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性PCB制程中可能存在的缺陷如对齐不良或桥接开路、短路或不

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39、电阻、电容、电感、半导体器件的失效分析

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上传者：feiniao2008

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电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情，比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或

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40、电子元器件失效分析与典型案例.pdf

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上传者：xiaosh728

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电子元器件失效分析与典型案例.pdf

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