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-IC测试中直流电性能和关键功能测试之间有什么差别

直流电性能和关键功能测试之间有什么差别？

直流电性能主要是测试器件内部连线是否开短路（可能环境潮湿作用，内部连线及焊接点腐蚀，导致部分PIN脚通道开路；也可能是在封装过程中，某金属丝使之两PIN脚通道桥接或接地短路；或者PIN脚保护晶体管（二极管）开路等多种可能发生的因素）；测试输入负载电流限制（IIL/IIH ）是否符合协议标准；测试输出门限电压（VOH/VOL ）是否符合协议标准；测试静态电流（IDD ）是否符合原厂要求，而关键功能是根据原厂器件产品的说明或应用笔记（范例），或者终端客户的应用电路，评估设计出可行性专用测试电路，通过外围电路或端口，施加相应的有效激励（信号源）给输入PIN脚，再通过外围电路的调节控制、信号放大或转换匹配等，使用通用的测量仪器或指示形式，来检测验证器件的主要功能是否正常。不难看出，直流电性能是在静态的状态下，测试他的部分参数，而这些参数即便是符合原厂的标准在真正使用的时候也有可能出现不能使用。