原创 集成电路高温动态老化系统-北京实验室对外开放-环境试验

中文名称：集成电路高温动态老化系统

英文名称：Intergrated circuit aging system

规格型号：ELEA－V

生产厂商：杭可

厂商国别：中国

联系人：颜先生

电话：13311258936

生产日期：

购进日期：

报废日期：

获取方式：自购

仪器购置经费来源：

检定情况：已进行计量认证

所在省市：北京市

所在单位：中科华

主要技术指标：系统分区：16区（标准） 试验容量：208×16（以DIP14计） 试验温度：最高150℃ 数字信号路数：每板64路 数字信号：每路可独立编辑信号的数据、地址、控制、三态特性；信号最高频率：2MHz；最小编程分辨率100ns，最小编程步长100ns；编程深度256k；信号幅度程控范围：2.0V～18.0V；最大寻址深度：64G；数字信号可采用直接输入、字符输入、程序输入三种方法编程； 模拟信号：多路多种类模拟信号发生单元及驱动电路，最高频率可达1MHz;最大驱动电流：1A;信号幅度Vpp20V；直流偏移量：0～1/2Vpp； 试验状态监测：64路信号示波监测接口；宽范围数字、模拟信号频率自动测试、记录；二级电源电压监测； 通讯速率：500K 二级电源：可程控VCC、VMUX、VEE； 输出能力：2V～18V/10A；具备灌电流能力； 电源要求：输入：AC380V,50Hz,三相（220V单相可选）；整机功率：8kW以下 重 量：约500kg 外形尺寸：（宽×高×深）1313mm×1950mm×1350mm

功能和应用范围：

通过计量认证：是

通过实验室认可：是

检测样品：

检测项目：适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路、混合电路及微处理器、存储器及等微电子电路进行高温动态老化试验。