原创 中国电子元器件中心实验室CECC介绍

概述： 根据原厂器件产品的说明或应用笔记（范例），或者终端客户的应用电路，评估设计出可行性专用测试电路，通过外围电路或端口，施加相应的有效激励（信号源）给输入PIN脚，再通过外围电路的调节控制、信号放大或转换匹配等，使用通用的测量仪器或指示形式，来检测验证器件的主要功能是否正常。
检测验证的内容：
A、完成级别I 测试中的所有项目

B、验证器件的主要功能是否失效。
C、验证器件的关键功能是否符合最终客户的要求。（可能符合原厂标准，但不一定符合客户的需求）
D、验证部分器件是否已使用过（器件是否已经烧录程序或数据）。

级别IV - 全部功能及特性参数测试 （FFCT）
概述： 根据原厂提供的测试向量或自己仿真编写（比较艰难的过程）的测试向量，使用IC测试机台来测试验证器件的直流特性参数、器件的所有功能或工作运行的状态，但不包括AC参数特性的验证分析。换句话说，完全囊括了级别II和级别III的测试项目。
测试内容：
A、完成级别II和级别III的所有测试项目。

B、级别III的不能完成的部分测试项目

C、部分电性能参数的极限值测试验证（如VDD的最大值和最小值、数据写入的速度等）

级别V 交流参数测试及分析 (ACCT)
概述： 在顺利完成了级别V之后，且所有的测试项目都符合标准，为了进一步验证器件信号传输的特性参数，及边沿特性、而进行AC参数的测试，（例如： Set-Up Time , Hold-On Time 等， 又如采用Shmoo Plote等工具来分析当一个变量随着另一个变量变化而变化的特性曲线图等。 完全包括了级别IV所能解决的问题和测试项目。
测试内容：
A、完成级别V的所有测试项目。

B、除常规测试项目之外，对部分参数进行骤次逼近的方式（Linearity线形模式或Binary二进制模式），找出其信号参数随其他变量变化的极限值，分析出器件工作在不同电性状态下的性能特性。

C、输入信号与输入信号、输入信号与输出信号之间的逻辑及时间关系

D、系统时钟与I/O信号之间的逻辑及时间关系

E、上电或掉电瞬间，部分信号变化的状态

级别VI 特殊环境测试及分析 (SEAT)
概述： 在级别V测试中的各种测试项目都合格通过的前提下，再对器件做环境测试，包括高低温度、**湿度、振动等特殊环境对器件电性能的影响。
测试内容：

A.完成级别V的所有测试项目
B.器件在特殊条件下的电气性能及工作状态（要根据所选择的测试环境而定）

附加检验测试的项目
级别EXI 无铅检测及成分分析(LFTA)
EXI -A 准试条棒测试
仅仅检测器件有害污染成份是否超标。
EXI -B 材料分析成份
可准确地检测分析出各种成份的含量及比率。

级别EXII 可焊性测试分析 （SDTA）
EXII-A 可焊性显微观测法
EXII-B 专用可焊性测试仪器试验分析法
EXII-C 其它仪器辅助观测分析
例如：X射线透视分析、金相切片分析、扫描电镜（SEM）分析等