原创 CECC Lab—级别I 真实性检验（AIV）

 2015-9-28 14:53  1810 18 18 分类: 采购与分销

CECC Lab—级别I 真实性检验（AIV）

(图文详见附件)

常见的真伪鉴定的通用方法有那些呢?

1. 包装检测

2. 外观检测

3. 开盖检测

4. PIN一致性检测

5. X-Ray检测

6. 功能参数分析

(此篇博文，我们只介绍后三种检测项目。)

	检测项目	x-ray
	简介	不破坏芯片情况下，检测元器件的封装情况，如气泡、邦定线异常，晶粒尺寸，支架方向等
	方法	利用X射线透视元器件，多方向及角度可选
	标准	Inspection Standard: JEDEC & CECC
	适用情境	检查邦定有无异常、封装有无缺陷、确认晶粒尺寸及layout 优势：工期短，直观易分析劣势：获得信息有限

	检测项目	规格书比对
	简介	检测元器件pin脚是否和原厂一致
	方法	检测管脚PN结电特性参数
	标准	Inspection Standard： JEDEC &CECC
	适用情境	检测元器件是否为替代品、赝品。优势：工期短劣势：对测试技术要求高，部分芯片不适用

	检测项目	功能测试
	简介	按照规格书的要求对元器件的功能进行验证
	方法	模拟器件的真实工作状态，搭接硬件电路，设置参数向量。进行参数分析
	标准	原厂要求
	适用情境	对器件做好坏筛选，失效分析，来料检验，等对器件真实的工作情况进行了解优势：结果准确