原创 一些汽车级的电子元器件标准

随着汽车中电子元器件使用比率的不断提高，又由于汽车对于安全性、可靠性的高要求，相对于各电子元器件的标准也相对较高。以下整理了一些汽车及电子元器件标准，包括芯片应力测试、离散组件应力测试、被动组件硬件测试等的认证规范。

AEC（automotive electronics council）

首先来了解以下AEC，它是由克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立的汽车电子委员会。AEC建立了质量控制的标准。同时，由于符合AEC规范的零部件均可被上述3家车厂使用，促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿，并推动了汽车零件通用性的实施，为汽车零部件市场的快速成长打下了基础。

AEC-Q100芯片应力测试的认证规范

AEC-Q100是基于集成电路应力测试认证的失效机理的标准。它包含以下12个测试方法：AEC-Q100-001 邦线切应力测试；AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试；AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试；AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试；AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试；AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试；AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级；AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR）；AEC-Q100-009 电分配的评估；AEC-Q100-010 锡球剪切测试；AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试；AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述。

AEC-Q101半导体分立器件应力测试的认证规范

AEC-Q101是汽车级半导体分立器件应力测试认证，它包含以下6个测试方法：AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试；AEC-Q101-002 机械模式静电放电测试；AEC-Q101-003 邦线切应力测试；AEC-Q101-004 杂项测试方法；AEC-Q101-005 带电器件模式的静电放电测试；AEC-Q101-006 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述。

AEC-Q200被动组件应力测试的认证规范

AEC-Q200是无源元件应力测试认证，它包括以下7个测试方式：AEC-Q200-001 阻燃测试；AEC-Q200-002 人体模式静电放电测试；AEC-Q200-003 横梁负载、断裂强度；AEC-Q200-004 自恢复保险丝测量程序；AEC-Q200-005 板弯曲度测试；AEC-Q200-006 表面贴装后的剪切强度测试；AEC-Q200-007 电涌测试。

AEC-Q001、AEC-Q002、AEC-Q003和AEC-Q004是另外4个电子元器件汽车级标准。其中，AEC-Q001规范中提出了所谓的参数零件平均测试方法（PPTA），PPTA是用来检测外缘半导体组件异常特性的统计方法，用以将异常组件从所有产品中剔除。PPTA可分为静态PAT、动态PAT和地域性PAT，所谓地域性PAT，即是为所有在晶圆上的裸晶加入邻近性权重，因此一些被不良裸晶包围或邻近的良好裸晶，也可能会被移除。AEC-Q002基于统计原理，属于统计式良品率分析的指导原则。AEC-Q001的统计性良品率分析分为统计性良品率限制和统计箱限制两种。AEC-Q003是针对芯片产品的电性表现所提出的特性化指导原则，其用来生成产品、制程或封装的规格与数据表，目的在于收集组件、制程的数据并进行分析，以了解此组件与制程的属性、表现和限制，检查这些组件和设备的温度、电压、频率等参数特性表现。AEC-Q004则提出了一系列的流程步骤，包括组件设计、制造、测试和使用，以及在该流程的各个阶段中采用何种程零缺陷的工具和方法。这些方法涵盖上述AEC的各种文件标准，以及JEDEC或AIAG等来自业界的质量控制技术或管理系统的广泛应用。当零件或制程已实现最佳化，且 成熟性在经过一段时间后被证实，此时只需要较少的工具就能改善或维持质量和可靠性。AEC-Q004实质上市一套零缺陷指导原则，其定义出芯片供货商或用户如何在产品生命周期中使用一些工具盒制程来达到零缺陷的目标。AEC-Q004不是强制性规范，是提出用来降低缺陷的工具和方法。