原创 测试技术第005篇 EIAJ的可靠性测试标准 ED-4701 ED-4702

2024-4-25 22:46 1380 9 3 分类: 测试测量 文集: 2 测试技术
    EIAJ 是日本电子元器件行业标准化组织。详细介绍另见 元器件第001篇 ECIA, JEDEC, JEITA, EDS
    ED-4701是EIAJ发布并维护的可靠性测试标准家族,包含 5 个部分:
/001 通则
/100 寿命测试 I 半导体器件的耐环境和耐久性
  101 稳态工作寿命
  102 高温高湿-加电
  103 高温高湿
  104 潮湿储存后焊接
  105 温度循环
  106 间歇工作寿命

/200 寿命测试 II 半导体器件的耐环境和耐久性
  201 高温储存
  202 低温储存
  203 湿度循环
  204 盐雾

/300 应力测试 I
  301B SMD耐焊接热
  302 其它形式物料耐焊接热
  303 可焊性
  304 静电敏感性 HBM
  305 静电敏感性 CDM
  306 闩锁
  307A 热冲击

/400 应力测试 II
  401A 引线:牵拉,扭转,折弯,螺丝锁紧
  402 装配:锁紧力,焊接强度,压接强度
  403 振动(正弦)
  404 冲击
  405 加速度(稳态)

/500 杂项
  501 印字稳定性
  502 塑封器件的可燃性
  503 密封
  504 低气压

    ED-4702 是用于SMD器件的机械应力测试方法标准。
  001 装配后温度循环
  002 焊点应力
  003 装配后翘曲
  004 装配后重复翘曲
  005 装配后跌落

作者: 电子知识打边炉, 来源:面包板社区

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开发工匠 2024-4-26 10:45

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