针对电子系统的复杂化及故障诊断难度，在系统设计过程中全面考虑可测问题，将电子系统可测性融入到设计规范中。本文首先创建多信号模型及可测性指标，之后对可测性指标进行分配和分析，通过对可测性的研究，根据相关的封装技术实现基于多模拟的电子系统可测设计。通过实验表示，基于多模拟信号的电子系统可测算法的结果精准，本文算法具有准确性，并且能够为电子系统提供指标分配、分析及最优测试序列的生成等一系列的功能。