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基于环形线圈感应的车辆测速技术与实现.
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时间:2026.01.12
上传者:用户1763184846106
基于halcon的汽车点火线圈检测
基于环
线圈
感应
车辆
测速
技术
实现
RUV4汽车点火线圈总成终检系统研制.
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大小:3.42MB
时间:2026.01.12
上传者:用户1763184846106
RUV4汽车点火线圈总成终检系统研制.
RUV4
汽车点火线圈
总成
终检
系统
研制
汽车发动机电控系统元件测试试验台研究
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大小:3.63MB
时间:2026.01.12
上传者:用户1763184846106
汽车发动机电控系统元件测试试验台研究
汽车发动机
电控系统
元件测试
试验
研究
基于00000CAN的汽车点火测试系统研究
所需E币:0
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大小:6.01MB
时间:2026.01.12
上传者:用户1763184846106
基于00000CAN的汽车点火测试系统研究
基于
00000CAN
汽车点火
测试系统
研究
吉利EV450汽车无法上电及无法行驶故障案例分析.
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大小:412.63KB
时间:2026.01.12
上传者:用户1764383502599
吉利EV450汽车无法上电及无法行驶故障案例分析.
吉利
EV450
汽车
无法
上电
无法行
故障
案例
分析
新型汽车防爆胎技术爆胎紧急充气关键技术研究
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大小:8.53MB
时间:2026.01.12
上传者:Alexander8888
新型汽车防爆胎技术爆胎紧急充气关键技术研究
新型
汽车
爆胎
技术
爆胎
紧急
充气
关键
多场耦合下倒装芯片封装焊点电迁移可靠性研究
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大小:4.53MB
时间:2026.01.12
上传者:光明88899
多场耦合下倒装芯片封装焊点电迁移可靠性研究
多场
耦合
下倒
芯片封装
焊点
电迁移
功率芯片互连空洞的形成机理及其对互连可靠性的影响
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大小:5.57MB
时间:2026.01.12
上传者:光明88899
功率芯片互连空洞的形成机理及其对互连可靠性的影响
功率
芯片互连
空洞
形成机
互连
可靠性
影响
基于CPU和DDR芯片的SiP封装引线键合工艺及可靠性研究
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大小:24.88MB
时间:2026.01.12
上传者:光明88899
基于CPU和DDR芯片的SiP封装引线键合工艺及可靠性研究
基于
cpu
ddr
芯片
sip
封装
引线
工艺
可靠性研究
倒装芯片封装和三维封装硅通孔可靠性研究
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大小:3.12MB
时间:2026.01.12
上传者:光明88899
倒装芯片封装和三维封装硅通孔可靠性研究
倒装
芯片封装
三维封装
硅通孔
可靠性研究
无源超高频射频识别标签芯片可靠性的设计与实现
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大小:3.49MB
时间:2026.01.12
上传者:光明88899
无源超高频射频识别标签芯片可靠性的设计与实现
无源
超高频
射频识别
标签芯片
可靠性
设计
实现
NVDIMM固态盘的闪存芯片控制器与可靠性研究
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大小:6.91MB
时间:2026.01.12
上传者:光明88899
NVDIMM固态盘的闪存芯片控制器与可靠性研究
NVDIMM
固态盘
闪存芯片
控制器
可靠性研究
跌落对手持设备中闪存芯片可靠性的影响
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大小:1.98MB
时间:2026.01.12
上传者:光明88899
跌落对手持设备中闪存芯片可靠性的影响
跌落
手持设备
闪存芯片
可靠性
影响
PDP高压驱动芯片可靠性研究及验证方法.
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大小:2.2MB
时间:2026.01.12
上传者:光明88899
PDP高压驱动芯片可靠性研究及验证方法.
pdp
高压
驱动芯片
可靠性研究
验证方法
基于C#的多功能专用芯片可靠性自动测试系统
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时间:2026.01.12
上传者:光明88899
基于C#的多功能专用芯片可靠性自动测试系统
基于
多功能
专用芯片
可靠性
自动测试系统
IEEE1394链路层控制芯片IP核的开发及IEEE1394总线可靠性的研究
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时间:2026.01.12
上传者:光明88899
IEEE1394链路层控制芯片IP核的开发及IEEE1394总线可靠性的研究
叠层芯片封装的热湿机械可靠性研究.
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时间:2026.01.12
上传者:光明88899
叠层芯片封装的热湿机械可靠性研究.
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